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無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司
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  • 半導體制冷冷水機滿足溫度控制需求

    半導體制冷冷水機滿足溫度控制需求的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃...

    型號: TES-85A25... 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/8 20:23:27 對比
    芯片高低溫測試元器件測試用設(shè)備高低溫一體機冷熱一體機制冷加熱循環(huán)器
  • -85℃- 250℃納米半導體/元器件冷水機

    -85℃- 250℃納米半導體/元器件冷水機的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫...

    型號: TES-8555W 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/8 20:20:58 對比
    芯片高低溫測試元器件測試用設(shè)備高低溫一體機冷熱一體機制冷加熱循環(huán)器
  • -92℃~250℃TEC半導體冷水機

    -92℃~250℃TEC半導體冷水機的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-8...

    型號: TES-8555W 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/8 20:19:10 對比
    芯片高低溫測試元器件測試用設(shè)備高低溫一體機冷熱一體機制冷加熱循環(huán)器
  • 半導體高低溫測試冷水機寬溫度定向升降

    半導體高低溫測試冷水機寬溫度定向升降的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-8...

    型號: TES-8525W 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/8 20:17:36 對比
    芯片高低溫測試元器件測試用設(shè)備高低溫一體機冷熱一體機制冷加熱循環(huán)器
  • 高精度芯片高低溫測試電子冷熱測試

    高精度芯片高低溫測試電子冷熱測試的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/8 20:15:51 對比
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  • 半導體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試

    半導體元器件Chiller,無錫冠亞芯片測試的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:38:49 對比
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  • 半導體元件分析Chiller,元器件

    半導體元件分析Chiller,元器件的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-8...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:36:25 對比
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  • 半導體與集成電路Chiller,無錫冠亞廠家

    半導體與集成電路Chiller,無錫冠亞廠家的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:34:36 對比
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  • 半導體芯片原材料Chiller,控流量壓力

    半導體芯片原材料Chiller,控流量壓力的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:32:32 對比
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  • 半導體芯片元氣件控溫Chiller

    半導體芯片元氣件控溫Chiller的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:30:38 對比
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  • 半導體芯片元氣件測試Chiller,水冷型風冷型

    半導體芯片元氣件測試Chiller,水冷型風冷型的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:29:02 對比
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  • 半導體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測試

    半導體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測試的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:26:46 對比
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  • -85℃~200℃ 半導體芯片檢測Chiller

    -85℃~200℃ 半導體芯片檢測Chiller的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:25:00 對比
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  • -45~250℃ 半導體芯片集成電路測試Chiller

    -45~250℃ 半導體芯片集成電路測試Chiller的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:23:13 對比
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  • 半導體芯片高低溫試驗箱Chiller,TES-45A25

    半導體芯片高低溫試驗箱Chiller,TES-45A25的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:21:26 對比
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  • 半導體芯片高低溫測試Chiller,元器件測試

    半導體芯片高低溫測試Chiller,元器件測試的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:06:51 對比
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  • 半導體芯片高低溫測試機Chiller,元器件用

    半導體芯片高低溫測試機Chiller,元器件用的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:04:23 對比
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  • 半導體芯片封裝Chiller,高低溫測試機

    半導體芯片封裝Chiller,高低溫測試機的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:01:53 對比
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  • 半導體芯片電子集成電路測試Chiller

    半導體芯片電子集成電路測試Chiller的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 10:00:11 對比
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  • 半導體芯片材料Chiller,高低溫測試機

    半導體芯片材料Chiller,高低溫測試機的典型應用:適合元器件測試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度...

    型號: TES-4555 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2025/1/7 9:58:21 對比
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