適合元器件測(cè)試用設(shè)備

在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試模擬。

無錫冠亞積探索和研究元件測(cè)試系統(tǒng)，主要用于半導(dǎo)體測(cè)試中的溫度測(cè)試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測(cè)試要求，解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題。

半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測(cè)試

半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)Chiller,元器件測(cè)試

　　測(cè)試結(jié)果通過通信接口傳送給分選機(jī)，分選機(jī)據(jù)此對(duì)被測(cè)試的集成電路進(jìn)行標(biāo)記、分選、收料或編帶。

　　成品測(cè)試的目的是把好的和壞的芯片分別挑出來，只有好的芯片才會(huì)被銷售給終端客戶，以保證芯片出貨時(shí)的良率。

　　測(cè)試機(jī)定制化，探針臺(tái)、分選機(jī)通用

　　測(cè)試機(jī)、探針臺(tái)、分選機(jī)所應(yīng)用的環(huán)節(jié)并不相同，其技術(shù)難度也各有差異。測(cè)試機(jī)屬于定制化設(shè)備，探針臺(tái)、分選機(jī)則更加通用。

　　1、測(cè)試機(jī)由機(jī)身和內(nèi)部的測(cè)試板卡構(gòu)成，均由測(cè)試機(jī)廠設(shè)計(jì)和制造。

　　測(cè)試機(jī)機(jī)身是一種標(biāo)準(zhǔn)化的設(shè)備，內(nèi)部可以插入不同的測(cè)試板卡。測(cè)試機(jī)廠會(huì)設(shè)計(jì)出一系列的測(cè)試板卡，每一種測(cè)試板卡可以滿足對(duì)某些功能的測(cè)試，測(cè)試廠在做芯片測(cè)試的時(shí)候，需要根據(jù)芯片的功能特性選擇不同的測(cè)試板卡進(jìn)行搭配。

此外，每一種芯片都需要編寫一套*的測(cè)試程序。因此，測(cè)試機(jī)的定制性主要體現(xiàn)在測(cè)試板卡的定制和測(cè)試程序的定制。