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詳細(xì)摘要： 供應(yīng)日立（二手）場發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發(fā)射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實(shí)現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式（浸沒式和無場式）。配備紅外CCD檢測相機(jī)，極靴內(nèi)二次電子檢測器，通用ET二次電子檢測器，低真空二次電子檢測

詳細(xì)摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

詳細(xì)摘要： 二手鎢燈絲電鏡，二手SEM；掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

詳細(xì)摘要： 日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細(xì)信息該設(shè)備具有新研制的電子光學(xué)系統(tǒng)和自動化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無閃爍，高像素和實(shí)時圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實(shí)時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。

詳細(xì)摘要： 二手高分辨率場發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

詳細(xì)摘要： 二手場發(fā)射顯微鏡SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： 二手場發(fā)射電鏡，二手SEM場發(fā)射掃描電鏡通用性強(qiáng)，可廣泛應(yīng)用于納米材料、金屬材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)化工、醫(yī)學(xué)及生物學(xué)領(lǐng)域，可高效觀察包括非導(dǎo)體樣品及強(qiáng)磁性樣品等。

詳細(xì)摘要： 二手日立場發(fā)射電鏡：貨供應(yīng)二手掃描電鏡,二手場發(fā)射電鏡,二手透射電鏡S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺式，桌面式Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

詳細(xì)摘要： 二手電鏡，二手場發(fā)射電鏡它*進(jìn)的特點(diǎn)和性能可以快速又簡便地適應(yīng)各種應(yīng)用。通用的Windows界面通過顯示器上顯示的菜單和圖標(biāo)允許進(jìn)行交互式的操作。應(yīng)用在材料，結(jié)構(gòu)，表面形貌分析：

詳細(xì)摘要： 二手場發(fā)射電鏡，二手電鏡：場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能x射線能譜儀，能同時進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面

詳細(xì)摘要： 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設(shè)計(jì)，卻能達(dá)到分辨率，可以與內(nèi)透鏡UHR掃描電鏡相媲美。

詳細(xì)摘要： 二手JEOL場發(fā)射電鏡7001F熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡,是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺。JSM-7001F具有大型、5軸、全對中馬達(dá)驅(qū)動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。

詳細(xì)摘要： 二手日立S-4300場發(fā)射電鏡繼承了傳統(tǒng)，它技術(shù)*進(jìn)的特點(diǎn)和性能可以快速又簡便地適應(yīng)各種應(yīng)用。通用的Windows界面通過顯示器上顯示的菜單和圖標(biāo)允許進(jìn)行交互式的操作。是否提供加工定制否類型電子顯微鏡 品牌日立型號S-4300 儀器放大倍數(shù)20x~5000000x目鏡放大倍數(shù)

詳細(xì)摘要： 二手掃描電鏡SEM產(chǎn)品介紹：TM-3000是日立高新公司新推出的一款機(jī)型小巧性能優(yōu)異的鎢燈絲電鏡，擁有大束流和低球差的物鏡和聚光鏡設(shè)計(jì)，配備了高分辨率二次電子探頭及高靈敏度五分割背散…

詳細(xì)摘要： 二手日立臺式電鏡TM-3000Hitachi 公司近日新一代TM3000臺式掃描電子顯微鏡。在其成功的前身TM-1000的基礎(chǔ)上，TM-3000在性能上作出了顯著的改善，包括放大倍數(shù)提高到30，000x，分辨率得到改善，整個機(jī)體節(jié)省了20%的空間，并添加了節(jié)能設(shè)計(jì)。

詳細(xì)摘要： 日本電子二手掃描電鏡JSM分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

詳細(xì)摘要： 二手SEM日立TM3030plus日立臺式電鏡TM3030Plus，是日立臺式電鏡TM系列的成員，它繼承了日立臺式電鏡的品質(zhì)。TM3030Plus在TM3030基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量，而且無需樣品前處理.

詳細(xì)摘要： 二手SEN,二手TEM透射電鏡是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬~百萬倍，用于觀察超微結(jié)構(gòu)，即小于0.2微米、光學(xué)顯微鏡下無法看清的結(jié)構(gòu)，又稱“亞顯微結(jié)構(gòu)“。

詳細(xì)摘要： 二手日立電鏡S-3000N：掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時，也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動 （聲子）、電子振蕩 （等離子體）。

詳細(xì)摘要： 95成新二手電鏡JSM-6510:是一款性能低價格的掃描電子顯微鏡，分辨率可達(dá)3.0nm?？砂从脩粢蠖ㄗ龅牟僮鹘涌诒阌谟脩糁庇^操作儀器。Smile Shot™軟件保證得到電子光學(xué)參數(shù)。JSM-6510的LGS型大樣品臺和GS型普通樣品臺可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。