日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀OPTM-H3
與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！

非接觸式載臺

對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品，可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。

產(chǎn)品開發(fā)-量測試作品

1.攜帶到合作廠商等，直接在現(xiàn)場量測效率Up

2.試作階段的檢查方法商定效率Up

規(guī)格樣式

選配

筆型探頭

能夠測量狹窄區(qū)域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。