產(chǎn)品規(guī)格

1在本公司規(guī)定的潤量條件下使用基準(zhǔn)相位因子進(jìn)行評價的性能

2相位屋值是10nm 以上時的重復(fù)精度

3希望變更中心波長時，請另行語詢

4每臺相機(jī)的測屋寬匿

5希望應(yīng)對更高的搬送速度時，請另行咨詢

6WPA-View 是Photonic-Lattice產(chǎn)品的名稱

雙折射不均勻檢出示例

Photron離線雙折射分布檢測系統(tǒng)可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統(tǒng)KAMAKIRI

薄膜檢測

Photron離線雙折射分布檢測系統(tǒng)應(yīng)用于透明光學(xué)薄膜(PVA,COC,COP,TAC,PC,PET,PMMA,PI)   的光學(xué)歪曲和配向的不規(guī)則評估 ·檢測

玻璃檢測 ·版狀物檢測

可用于MTF 或透射率等光學(xué)性能低下的評估，以及造成裂紋的殘留應(yīng)力分布的可視化等。另外，近 年來在車載顯示屏用高品質(zhì)玻璃的雙折射分布評估的應(yīng)用上，KAMAKIRI的面測量有顯著進(jìn)步

透明樹脂成型品檢測

在透明樹脂制品的內(nèi)部應(yīng)力、模具內(nèi)的樹脂流動、微小缺陷可視化以及成形條件的優(yōu)良化上都有廣泛應(yīng)用。

KAMAKIRI提供的附加價值

通過高速面掃描將雙折射測量帶入新次元

從「可視化」到「檢測的自動化」

防止不良品流出&實(shí)現(xiàn)快速的缺陷檢測

伴隨著顯示器的高清晰化和高對比度化，以及用戶的畫質(zhì)提高，在薄膜面內(nèi)也 需要更高的相位差和主軸方位的均勻性。

此外，從環(huán)保的觀點(diǎn)出發(fā)，廢棄品的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置變得十分重要。

本公司偏振光高速相機(jī)及掃描系統(tǒng)組合而成的KAMAKIRI, 可以在極短時 間內(nèi)對雙折射分布進(jìn)行高度檢測和數(shù)據(jù)記錄。

豐富的引進(jìn)實(shí)績

2014年末開始銷售后，日本、韓國、中國的光學(xué)薄膜制造商和玻璃、透鏡成型制造商已經(jīng)采用了超過50臺  KAMAKIRI 系列產(chǎn)品。特別是光學(xué)薄膜制造商的生產(chǎn)線多種多樣，各自的要求不同。本公司在聽取客戶的生 產(chǎn)線狀況的同時，提出了優(yōu)良的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。迄今為止，制作及引進(jìn)實(shí)績包含了從200mm 寬的小型系統(tǒng)到超過 5m 寬的大型系統(tǒng)。

導(dǎo)入流程

很多客戶希望在初次引進(jìn)之前預(yù)先確認(rèn)系統(tǒng)的檢查效果。

對于初次進(jìn)行樣品評估的客戶將予以免費(fèi)。(相關(guān)樣本條件和演示網(wǎng)頁的信息，請參閱第14頁)

大部分的客戶都是先引進(jìn)臺式KAMAKIRI,  在確認(rèn)過面測量的效果之后制定專有的OK/NG 評判基準(zhǔn)并優(yōu)化判定算法之后再引進(jìn) 在線型的KAMAKIRI 系統(tǒng)。由于臺式KAMAKIRI 可以改造為在線型KAMAKIRI,  對于消除運(yùn)用上的疑難問題，并以少量的投入建 立檢查體制非常有利。

定期檢查 · 定期維護(hù)

建立了服務(wù)體制，使客戶的裝置能夠經(jīng)常舒適地運(yùn)用，并且能夠應(yīng)對突發(fā)性的修理等。根據(jù)客戶的機(jī)種型號 和使用計劃，定期進(jìn)行檢查并提供需更換的零部件。引進(jìn)時請參考《定期檢查維護(hù)服務(wù)合同》。

KAMAKIRI產(chǎn) 品 一 覽

我們提供用于在線品質(zhì) ·生產(chǎn)管理的在線型系列，以及適用于抽樣檢查及研發(fā)的臺式系列。

實(shí)時檢測畫面顯示

通過實(shí)時顯示光學(xué)變形、寬度方向及輸送方向的趨勢 圖，能夠在生產(chǎn)現(xiàn)場及時了解所需信息。

數(shù)據(jù)處理流程以及應(yīng)用示意圖

適用于客戶生產(chǎn)線的客制化

提供適用于客戶生產(chǎn)線的系統(tǒng)運(yùn)用及結(jié)構(gòu)。

根據(jù)需要檢測的不均程度以及產(chǎn)量決定空間分辨率以及存儲容量。 另外，根據(jù)生產(chǎn)線和工廠空間，設(shè)計制作框體。

如果商談內(nèi)容含有機(jī)密信息，可以簽署保密協(xié)議(NDA),    請隨時與我們聯(lián)系。

在線的部分檢查及試制生產(chǎn)線的評估

KAMAKIRI 雙折射測量模塊

可安裝在其他設(shè)備上，構(gòu)成專用小型檢查系統(tǒng)

KAMAKIRI 系統(tǒng)的測量保證及檢查體制

本公司設(shè)有相位差、主軸方位的校正系統(tǒng)，利用該系統(tǒng)校正過的標(biāo)準(zhǔn)相位子可以對客戶 的設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)維護(hù)。

此外，我們也會對測量性能進(jìn)行定期檢查。

本公司也提供備選的簡易標(biāo)準(zhǔn)相位子，以供客戶進(jìn)行日常檢測。

KAMAKIRIX-Stage

WPA-KAMAKIRI

KAMAKIRI MEM-AS

Photron 的光學(xué)產(chǎn)品介紹

除了適用于薄膜、玻璃、樹脂成型品評估的KAMAKIRI 系列以外，我們 還提供面向生產(chǎn)品質(zhì)管理和生產(chǎn)技術(shù)評價的紅外線相機(jī)系統(tǒng)。

(此類產(chǎn)品只在日本國內(nèi)銷售)