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奧林巴斯半導體顯微鏡可用于觀察金屬材料的微觀組織結構、相分布、晶粒大小等，幫助研究人員了解材料的性能和特性，為材料的研發(fā)和改進提供依據。
奧林巴斯工業(yè)金相顯微鏡 BX53M/BXFM可用于觀察金屬材料的微觀組織結構、相分布、晶粒大小等，幫助研究人員了解材料的性能和特性，為材料的研發(fā)和改進提供依據。
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