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在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織，整個測試過程無任何損傷。SI-PIN探測 直讀分析法+基本參數(shù)法FP
在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織，整個測試過程無任何損傷。直讀分析法+基本參數(shù)法FP SI-PIN探測
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