超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超快瞬態(tài)吸收顯微成像,超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)-TA100自動(dòng)化系統(tǒng)：全自動(dòng)光路切換、自動(dòng)化光路校準(zhǔn)；軟件：數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析擬合等。
閃光光解系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
閃光光解系統(tǒng)LFP100：OPO波長(zhǎng)調(diào)諧范圍：210-350nm/420-700nm/720-2300nm。
超快泵浦探測(cè)陰影成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超快陰影泵浦探測(cè),飛秒陰影泵浦探測(cè),超快泵浦探測(cè)陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調(diào)節(jié)pump和probe光之間的光程差來進(jìn)行測(cè)試。首先激光打在樣品上，樣品表面...
超快時(shí)間分辨太赫茲光譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
飛秒熒光,飛秒時(shí)間分辨太赫茲光譜,時(shí)間分辨熒光光譜,超快時(shí)間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)THZ100自動(dòng)化系統(tǒng)：全自動(dòng)光路切換、自動(dòng)化光路校準(zhǔn)；充氮樣品倉：支持溶液、薄膜...
穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜系統(tǒng)TPL300成像模塊功能：熒光強(qiáng)度/壽命/光譜成像、載流子遷移成像、光電流成像。
深紫外熒光系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
深紫外熒光系統(tǒng)成像功能：熒光強(qiáng)度或光譜成像/熒光壽命成像/深紫外成像；激發(fā)波長(zhǎng)：206nm/257nm/343nm/515nm。
多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)-FLIM300熒光強(qiáng)度、壽命成像、載流子遷移成像、熒光/拉曼光譜采集、光電流成像、電致發(fā)光成像。
超快熒光光譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超快熒光,熒光光譜儀,超快熒光光譜系統(tǒng)-UF100軟件：數(shù)據(jù)采集/分析軟件，微區(qū)檢測(cè)模塊：空間分辨率≤500nm。
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100 參考價(jià)：面議
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100抖動(dòng)消除：參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集；功率檢測(cè)范圍：50 nW-40 mW。
非線性SHG測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SHG100非線性SHG測(cè)試系統(tǒng)電控位移臺(tái)：行程范圍20x20mm。支持同步觸發(fā)掃描，用于SHG成像。
高速探測(cè)器 參考價(jià)：面議
高速線陣CMOS探測(cè),高速探測(cè)器類型：寬譜響應(yīng)高速近紅外探測(cè)器、寬譜響應(yīng)高速可見探測(cè)器、高靈敏高速可見探測(cè)器等。
大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器 參考價(jià)：面議
大能量激光器,納秒激光器,激光器品牌,大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器是二極管泵浦Nd:YAG納秒脈沖激光器，具有輸出能量高、頻率高、光斑質(zhì)量好、智能...
高能高頻DPSS連續(xù)可調(diào)諧納秒激光器 參考價(jià)：面議
高能高頻DPSS連續(xù)可調(diào)諧納秒激光器以其高能量輸出、高頻重復(fù)率、波長(zhǎng)可調(diào)諧性、光束質(zhì)量好、可靠性高、易于集成和環(huán)保節(jié)能等特點(diǎn)，成為許多領(lǐng)域中的理想選擇。
碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
碳化硅襯底檢測(cè),碳化硅成像檢測(cè),碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無損檢測(cè)系統(tǒng)：最高檢測(cè)速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識(shí)別。
SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
碳化硅成像檢測(cè),SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng)檢測(cè)時(shí)間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。
MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)明場(chǎng)/PL檢測(cè)類型：明場(chǎng)缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
電激發(fā)納秒瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
電激發(fā)納秒瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)采用電控延遲系統(tǒng)和獨(dú)立超連續(xù)白光光源，用于檢測(cè)樣品在亞納秒到毫秒尺度的光/電誘導(dǎo)動(dòng)力學(xué)演化過程。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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