檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱冷熱沖擊箱廠家

產(chǎn)品用途：

 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、汽車電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測(cè)分析的重要儀器設(shè)備，測(cè)試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的重要依據(jù)或參考。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試室溫度范圍:-40℃~+150℃(風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍:-10℃~-40℃(任意可調(diào))

高溫沖擊范圍:60℃~150℃(任意可調(diào))

檢測(cè)儀器設(shè)備 皓天三箱冷熱沖擊箱廠家

滿足標(biāo)準(zhǔn)

?GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

?GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

?GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

?GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

?GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

?GJB150.3-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 高溫沖擊試驗(yàn)

?GJB150.4-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 低溫沖擊試驗(yàn)

?GJB150.5-86 J用設(shè)備環(huán)境實(shí)驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

?GJB360.7-87 電子機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)