三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品熱脹冷縮測(cè)試

        在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要。而熱脹冷縮現(xiàn)象往往會(huì)對(duì)產(chǎn)品的性能和壽命產(chǎn)生重大影響。三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱，作為一款專業(yè)的測(cè)試設(shè)備，為產(chǎn)品的熱脹冷縮測(cè)試提供了精準(zhǔn)、高效的解決方案。它就像一位嚴(yán)格的考官，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境氣候的考驗(yàn)，確保產(chǎn)品在各種溫度變化環(huán)境下都能保持穩(wěn)定的性能。

一、主要功能及特點(diǎn)：

功能：能夠快速實(shí)現(xiàn)高溫、低溫之間的切換，模擬芯片在實(shí)際使用中可能面臨的惡劣的溫度變化環(huán)境，對(duì)芯片的性能、可靠性進(jìn)行嚴(yán)格測(cè)試。

四、滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

1. IEC 60068-2-14：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。

2. MIL-STD-810F：美國(guó)J用標(biāo)準(zhǔn)，環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法。

1. GB/T 2423.1-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫。

2. GB/T 2423.2-2008：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫。

3. GB/T 2423.22-2012：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品熱脹冷縮測(cè)試