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高加速壽命試驗(yàn)箱（HALT 箱）是一種前衛(wèi)的可靠性測(cè)試設(shè)備。它能快速模擬極-端溫度、振動(dòng)等環(huán)境應(yīng)力，加速產(chǎn)品潛在缺陷暴露。其具有寬溫度范圍、高振動(dòng)頻率和快速溫變...

溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備，旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問(wèn)題。廣泛應(yīng)用于電子元器件...

高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備，旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問(wèn)題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、...

hast試驗(yàn)箱 高溫 高濕 高壓可靠性適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.40 / IEC60068-2-66、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D、...

高速壽命試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備，旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問(wèn)題。