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RUIAN/睿安AS-1000 FID固定污染源VOCs在線連續(xù)監(jiān)測本系統(tǒng)為企業(yè)或環(huán)保部門采取及時(shí)、應(yīng)急處理措施提供可靠依據(jù)。

天瑞WDX400固定道波長色散X熒光光譜儀可配置10個(gè)固定分光道，同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U 任意十種元素。標(biāo)準(zhǔn)配置為Na、Mg、...

天瑞WDX200固定道波長色散X熒光光譜儀可配置10個(gè)固定分光道，可同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U的任意十種元素。該儀器可廣泛應(yīng)用于水...

天瑞WDX 4000順序式波長色散X熒光光譜儀可應(yīng)用于地質(zhì)、水泥、鋼鐵和環(huán)保等領(lǐng)域。WDX-4000采用大量通用化的設(shè)計(jì)，可以提供給客戶經(jīng)濟(jì)便捷的維護(hù)。

天瑞OES8000S火花全譜直讀光譜儀采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，...

天瑞ICP-3000電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀用于測定不同物質(zhì)（可溶解于鹽酸、硝酸、氫氟酸等）中的微量、痕量元素含量。自動化程度高，操作簡便，穩(wěn)定可靠。目前儀器...

天瑞ICP 3200電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀簡潔實(shí)用的垂直火炬雙向觀測,一鍵徑向軸向絲滑切換;全新的燃燒室風(fēng)道設(shè)計(jì),配合密封式抽風(fēng)系統(tǒng),讓積攢的余熱消散無形;...

天瑞ICP 2060T電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀適合用于測定各種石化產(chǎn)品中常量、微量、痕量元素的含量。儀器擁有專業(yè)完善的油品直接進(jìn)樣測量技術(shù)，可智能調(diào)節(jié)氧氣流量...

天瑞EDX4500A 能量色散X熒光光譜儀該儀器的主要特征是利?智能真空系統(tǒng)，可對Na、Mg、AI、Si、P、S、CI等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利?XRF技術(shù)...

天瑞EDX3300S X熒光測硫儀是一款高性能、便攜式測硫儀。該款儀器符合國V和國VI汽油、柴油中硫含量檢測標(biāo)準(zhǔn)ASTM D7039(汽油和柴油中硫含量測定法，...

天瑞EDX 5500H X熒光元素錄井分析儀推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項(xiàng)技術(shù)的獨(dú)到之處在于：通過巖...

天瑞Cube 100S PLUS能量色散X熒光光譜儀采用X射線熒光分析技術(shù)，針對原油各種燃料油中含硫量進(jìn)行現(xiàn)場快速分析測量而設(shè)計(jì)的便攜、易于使用的分析儀器。

天瑞CS-288高頻紅外碳硫分析儀采用高頻燃燒部分和紅外分析部分一體結(jié)構(gòu)。儀器標(biāo)配四套檢測系統(tǒng)，具有分析范圍寬、分析樣品種類多、分析精度高等特點(diǎn)。

天瑞Thick800A X熒光鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動平臺。...

天瑞Smart100 Plus X熒光貴金屬檢測儀符合國標(biāo)GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，本產(chǎn)品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)之上研...

天瑞Raman Dual-100雙波長共焦拉曼光譜儀是一款基于拉曼光譜原理，采用雙波長激光（532nm/785nm）共焦技術(shù)設(shè)計(jì)的多功能快速物質(zhì)識別儀。整機(jī)一體...

天瑞OPA 1000在線電鍍液分析儀基于元素分析的實(shí)時(shí)過程控制，滿足檢測制造銅箔過程中在線電鍍液(液流)成分檢測要求，最多可測試80多種化學(xué)元素，檢測限從ppm...

天瑞OES 1000（火花）光電直讀光譜儀特別適用于測定黃金產(chǎn)品中微量元素的含量，天瑞儀器火花光電直讀光譜儀的快速測試使研發(fā)、生產(chǎn)過程和質(zhì)量更可控，幫助客戶提升...

天瑞Gem UV-100寶玉石光譜檢測儀基于光譜測量原理，通過不同寶玉石材料在紫外-可見-近紅外波段的光譜吸收特征，對寶玉石種屬、成因、及優(yōu)化處理特征進(jìn)行快速、...

天瑞EDX-V X射線熒光鍍層測厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng),對于微米級尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析,能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測量。