韓國NanoSystem非接觸光學(xué)表面形貌測量系統(tǒng) 返回列表頁

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產(chǎn)品型號NanoView-1800

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更新時(shí)間：2023-07-27 18:15:00瀏覽次數(shù)：1261次

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產(chǎn)品分類品牌分類

韓國NanoSystem

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),建材,電子,汽車韓國NanoSystem非接觸光學(xué)表面形貌測量系統(tǒng)型號：NanoView-1800/NanoView-2400/NanoView-2700

詳情介紹

韓國NanoSystem非接觸光學(xué)表面形貌測量系統(tǒng)

型號：NanoView-1800/NanoView-2400/NanoView-2700

高精度非接觸式表面形貌檢測

無損3D表面輪廓分析

宜用平臺提供快速、高效的工藝流程的監(jiān)控

全面、直觀的軟件提供了式樣和應(yīng)用靈活性

主要功能

3D形貌測量

高，深，間隔（從納米級到5mm）

粗糙度（R參數(shù)）表面（S參數(shù)）

面積信息（體積，面積）

2D測量

NanoView可靠性在許多應(yīng)用領(lǐng)域發(fā)揮性能。

NanoView 提供完整的表面形貌納米測量和分析技術(shù)方案。

韓國NanoSystem非接觸光學(xué)表面形貌測量系統(tǒng)

NV-Serise技術(shù)參數(shù)

型號	NanoView-1800	NanoView-2400	NanoView-2700
測量原理	非接觸三維白光掃描干涉法（WSI）/移相干涉法（PSI）
現(xiàn)場放大鏡	1.0×（標(biāo)配）	1.0×（標(biāo)配）	1.0×（標(biāo)配）
物鏡	單鏡頭	可選5個(gè)鏡頭（手動鼻輪）	可選5個(gè)鏡頭（自動鼻輪）
光源	白光LED光源
掃描方式	閉環(huán)控制壓電促動掃描方式
縱向掃描范圍	Max 270um（可拓展到：5mm）
縱向掃描速度	≤12um/sec（1X~5X倍率可選）
傾斜	±3°（樣品臺傾斜）	頭部傾斜±5°（手動模式）	頭部傾斜±5°（自動模式）
縱向分辨率	WSI:＜0.5nm / PSI:＜0.1nm
橫向分辨率	0.2~4um（取決于物鏡/視場放大鏡倍率）
臺階重復(fù)性	＜0.5%（1s）
XY樣品臺行程	140×140mm（手動）	230×230mm（自動）	230×230mm（自動）
XY樣品臺行程	50×50mm（手動）	100×100mm（手動）	100×100mm（自動）
Z軸行程	30mm（手動）	100mm（手動）	100mm（自動）
環(huán)境要求	溫度：15~30℃，溫度變化量：＜1℃/15min 濕度：＜60%，無凝結(jié)