目錄:賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司>>制樣設(shè)備>> EM-09100IS離子切片儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,綜合 |
EM-09100IS離子切片儀用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法：制備薄膜樣品除了需要將樣品切成矩形薄片外，不需要溶劑或化學(xué)試劑及前處理（打磨或凹坑研磨），比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
EM-09100IS離子切片儀的主要特點(diǎn):高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理快速制備無需復(fù)雜的前處理。
1.度的表面損傷。
2.高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理。
3.快速制備。
4.無需復(fù)雜的前處理。
5.最小限度的表面損傷。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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