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ANALECT_DiamondMX 過程分析儀

堅(jiān)固，可靠，臺(tái)式或機(jī)架安裝FTIR/FT-NIR過程分析儀

ANALECT_DiamondMX 過程分析儀通過一臺(tái)儀器同時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)多個(gè)點(diǎn)位的液體或固體的物理性質(zhì)和化學(xué)成分 , 臺(tái)式或機(jī)架安裝選項(xiàng) ,多功能在線與現(xiàn)場(chǎng)過程監(jiān)控和最終產(chǎn)品檢驗(yàn)。

SpectraRTS提供靈活的系統(tǒng)設(shè)置和控制，廣泛的診斷，易于使用的腳本和強(qiáng)大的DCS通信。交互式通信允許在改變混合類型時(shí)自動(dòng)切換模型集，從而大限度地提高混合測(cè)量效率。

分析儀的性能

•干涉儀十字型密封模塊與折射掃描設(shè)計(jì)；帶固定角立方鏡 的精密交叉滾子軸承。

•光譜范圍: 擴(kuò)展中紅外7,400至450 cm-1;近紅外12000

到1200 cm-1.

•分 辨 率: 1.5 cm-1 (非變跡); 2 cm-1 (變跡).

•掃描速度: 自動(dòng)優(yōu)化的探測(cè)器類型或軟件可選擇的特定應(yīng)用。自適應(yīng)數(shù)字伺服驅(qū)動(dòng)器采用激光正交法作為正位參考。

•切趾函數(shù): 標(biāo)準(zhǔn)功能可選擇14個(gè)鍵位。

•紅外源: 內(nèi)部，風(fēng)冷，高效率反射球。

•信號(hào)轉(zhuǎn)換: 計(jì)算器模塊可選增益，高通和低通濾波器，以及延遲補(bǔ)償。高精度，24位 Sigma Delta ADC.

•采樣光模塊: 內(nèi)部聚焦光束，外部準(zhǔn)直光束。

•光標(biāo)讀書: 連續(xù)，橫坐標(biāo)單位為cm-1或納米，%T或吸光度單位。

•檢測(cè)器: 標(biāo)準(zhǔn)熱釋電 DTGS。