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| 窗口類型 | 無窗 | 分辨率 | 126eVeV |
|---|---|---|---|
| 峰背比 | NA | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 探測器類 | 硅漂移探測器（SDD） | 探測器面積 | 60 mm2 ( 4 × 15 mm2)mm |
| 儀器種類 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,綜合 |
| 最大計數(shù)率 | 大于4,000,000 cpscps | 元素檢測范圍 | B (5) to Am (95) |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
FlatQUAD布魯克能譜儀是一款平插式探測器.置于掃描電鏡極靴和樣品之間。四塊硅漂移品體成環(huán)形排列于中心孔四周，入射電子束從中心孔穿過。適用于不同的工作距離并具有優(yōu)異的性能。
OUANTAX FlatQUAD是基于革命性的XFlash' FlatQUAD探測器的EDS微區(qū)分析系統(tǒng)。這一*設(shè)計的環(huán)形四通道SDD探測器工作時位于掃描電鏡極靴和樣品之間，能夠獲得EDS分析較大的固體角。結(jié)合ESPRIT分析軟件QUANTAXFlatQUAD系統(tǒng)對于傳統(tǒng)斜插式能譜很難分析的樣品，可提供優(yōu)的元素面分布效果。
使用新的探測器技術(shù)
QUANTAX FlarQUAD系統(tǒng)的核心一-XFlash FlarCUAD探測探測福配置了不同厚度的特殊聚合物窗口，可吸收不同器。基于新穎的探測器設(shè)計理念.安裝于掃描電鏡樣晶加速 電壓下的背散射電子。倉的水平接口，使探測器置于電鏡極靴和樣品之間。而傳統(tǒng)的探測器則采用電鏡的傾斜接口。XFlash" FlatOUAD探測器能夠與不同類型的掃描電鏡兼容。
FlatQUAD布魯克能譜儀探測器的探頭組件中，四個獨立的硅漂移芯片成環(huán)形排列于中心孔四周，入射電子束從該中心孔穿過。探測器材料經(jīng)過特殊選擇.避免對電子束產(chǎn)生影響.保證高質(zhì)量的電鏡圖像。
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