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OLED變溫測試冷熱臺氣密腔室（氮氣保護），上蓋適配光電二極管傳感器，控溫速度：0~10℃/min（程序段控溫時），2個探針、2個BNC接口。

變溫X衍射結構緊湊，適用于多種材料的變溫XRD測試，最大溫度范圍 -190 ℃ 到 600 ℃ （可選性）。

變溫光譜儀光路：適用透射和反射光路；視窗：可拆卸更換，可用不同材質玻璃實現(xiàn)不同波段光觀察。

變溫光譜儀冷熱臺可實現(xiàn)多種環(huán)境(氣氛、真空、濕度等)，與顯微鏡、拉曼、光譜儀、DIC等聯(lián)用，進行材料、器件等的成分、相變、形變、電學、光學性能等測試。

變溫拉伸可實現(xiàn) -190~600°C溫度下材料的動態(tài)應力應變特性，與顯微測試系統(tǒng)相結合，可以定量分析材料在測試過程中相變 行為、裂紋萌生和擴展、斷裂、...

冷熱扣式電池,原位高低溫扣式鋰電池性能測試裝置（CH120-30-KB）是一款用于扣式鋰電池不同溫度下電學性能測試，可靠性測試裝置。裝置采用真空腔體設計，可同時...

冷熱原位光學電池測試裝置，冷熱光學原位電池（CH120-60-B）可以實現(xiàn)在鋰電正負極材料的在不同溫度下充放電過程中原位光學、光譜測試表征，以觀察充放電過程中電...

模型電池，原位XRD鋰電池模具（WT-X-B）可以實現(xiàn)在鋰電池的充放電過程中原位XRD測試（In-situXRD），以觀察充放電過程中電極材料所發(fā)生的結構和物相...

WTDIC-TENSILE三維全場應變測量系統(tǒng)系統(tǒng)全場測量測量不局限于單點，可全范圍觀測變形更加便捷識別臨界破壞點無需再次試驗，即可從之前獲取的圖像提取關注熱點...

WTDIC-Micro三維顯微應變測量系統(tǒng)系統(tǒng)——光學顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關技術的結合，可以滿足納米級精度測量需求。

液氮高低溫試驗箱采用壓縮機制冷，電熱絲加熱，實現(xiàn)-70~200℃的環(huán)境溫度，依據(jù)Q/UHT-2009《高溫低溫拉伸試驗標準》制造，滿足大部分材料變溫力學測試需要...

超低溫試驗箱噪音等級A聲級≤68dB(A)離測試設備大約1米無阻隔位置。測試環(huán)境條件為環(huán)境溫度為+5℃～+35℃；相對濕度≤85%RH