電光引伸計(jì)非接觸式測量樣品上兩個(gè)黑白邊緣（目標(biāo)）的運(yùn)動，模擬輸出信號與應(yīng)變成正比。電光引伸計(jì)200XR型的頻率范圍為0-250 kHz。集成的查看器和兩個(gè)液晶顯示器簡化了儀器設(shè)置所需的調(diào)節(jié)性能；在進(jìn)行測量時(shí)，觀察者還可以觀察樣品上的黑白邊緣?？梢酝ㄟ^法蘭將具有1 mm-500mm不同測量范圍的鏡頭組件安裝到200XR型號上。透鏡單元的校準(zhǔn)導(dǎo)致在應(yīng)變范圍內(nèi)的輸出電壓Δl為±10V?？梢蕴峁в虚_關(guān)的200XR，以在兩個(gè)測量軸之間切換。這樣就可以將該儀器也用作Biaxial Extensometer 200XR，以測量垂直或水平方向的應(yīng)變。標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)距l(xiāng)o為75mm。通過安裝在鏡頭單元上的標(biāo)距適配器，可以建立1mm至125mm的連續(xù)可調(diào)標(biāo)距。

引伸計(jì)概述：

引伸計(jì)是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上，引伸計(jì)有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計(jì)進(jìn)行；這種儀器具有至少兩個(gè)機(jī)械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會導(dǎo)致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應(yīng)。

對于非接觸式測量，使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計(jì)。為了測量材料樣品上的應(yīng)變，樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計(jì)內(nèi)的傳感器檢測標(biāo)記的運(yùn)動，從而檢測拉伸試驗(yàn)期間長度的變化。有引伸計(jì)，即使材料樣品溫度非常高（高達(dá)3000°C），它們也能夠測量非?？斓膽?yīng)變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗(yàn)中，非接觸式測量裝置是有利的。通?？梢詫⑺鼈冊O(shè)置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學(xué)引伸計(jì)也適用于破壞性材料測試期間的測量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計(jì)：

• 電光引伸計(jì)200XR可進(jìn)行高達(dá)500kHz的非?？焖俚臏y試

• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實(shí)現(xiàn)1：64000和4673測量的高分辨率

• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實(shí)現(xiàn)1：16000的高分辨率和高穩(wěn)定性

• 引伸計(jì)ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率