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詳細摘要： 超薄膜用動態(tài)粘彈性測量儀DVA-225尺寸范圍廣，從超薄膜到厚片可以用同一樣品測量的彈性模量為4位或更多

詳細摘要： 日本ubm瀝青動態(tài)流變儀E4000Rheogel-E系列是用于評估固體材料（如聚合物薄膜和橡膠板）的粘彈性的測量儀器。

詳細摘要： 日本wingo實驗用樣品拋光機L-1000 / L-2000 / L-3000 / L-5000L-1000 / L-2000 / L-3000 / L-500...

詳細摘要： 日本wingo樣品拋光機L-5000系列? 8英寸（Φ205）鋁孔盤/含氟樹脂加工（單軸安裝）1張?帶接頭的供水軟管（12mm x 3m）1套?帶接頭的...

詳細摘要： 日本SAIKA茶廠用金屬碎屑去除機MC系列簡單緊湊易于所有人使用防振設計即使直接安裝在成型機上也能穩(wěn)定運行由于只有電源正常，因此可以在工廠周圍移動并使用它。支持...

詳細摘要： 日本SAIKA樹脂材料用金屬碎屑檢出機MED系列業(yè)界z高靈敏度的Fe 0.1 mm / SUS 0.15 mm檢測　*我們的調查_通過自然跌落法進行金屬探測每小...

詳細摘要： 日本SAIKA塑料原料用金屬碎屑去除機MHD系列Metallider從樹脂制造商到模塑制造商的主要系列高靈敏度（Fe0.16mm?/ SUS0.24mm?） &...

詳細摘要： 日本SMT透氣性/平滑度試驗機TZ-517D可以測量各種產(chǎn)品以及紙張的透氣性和光滑度。與JIS方式的透氣性/平滑度測試儀相比，可在1/50以下的短時間內(nèi)進行測定...

詳細摘要： 低價納米粒子生產(chǎn)設備直流電弧電源300A，濾波器-1片RP GHP-150與OMT，循環(huán)泵100L /分鐘皮拉尼真空計（PT-4P），安全閥水冷電極（與W碼片）...

詳細摘要： 超細粒子/納米粒子制造設備超細粒子/納米粒子制造裝置的目的是通過在氫氣（與氬氣混合）或氮氣等氣體氣氛中通過電弧熔化來強制蒸發(fā)材料以制造超細粒子/納米粒子。它被開...

詳細摘要： 日本相馬光學soma太陽能光譜儀S-2440 modelⅡ根據(jù)陽光和太陽模擬器的輻射波長優(yōu)化靈敏度特性硅基染料敏化的寬測量波長范圍300至1100 nm，涵蓋了...

詳細摘要： 日本ubm聚合物溶液的粘度測量Rheosol-G系列Rheosol-G系列是一種旋轉應變控制型動態(tài)粘彈性測量設備，可以測量和分析從穩(wěn)態(tài)流動粘度到動態(tài)粘彈性的廣泛...

詳細摘要： 日本shinyei吸收光譜露點水分儀TDLAS T-1系列以分鐘和小時為單位的響應能力已大大降低，從而可以以秒為單位進行測量。（示例）露點環(huán)境示例 響應時間：-...

詳細摘要： 日本shinyei高露點測量系統(tǒng)HDMS-02高露點測量系統(tǒng) HDMS-02 是一種測量系統(tǒng)產(chǎn)品，它集成了 DewStar S-3 系列鏡面冷卻露點儀，可在較寬...

詳細摘要： 日本shinyei高露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-3 系列高露點型鏡面冷卻露點測量（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學露點儀） DewStar S-3 ...

詳細摘要： 日本shinyei低露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-2系列鏡面冷卻露點儀（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學露點儀） DewStar S-2 在干燥室內(nèi)測...

詳細摘要： 日本shinyei標準鏡面冷卻露點儀DewStar S-1 系列鏡面冷卻露點儀（mirror-cooled dew point meter，鏡面式露點儀，光學露...

詳細摘要： 日本shinyei分體式鏡面冷卻露點儀DewStar R-1 系列DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/濕度測量法"認定為標準濕度計的高精度、高可靠性...

詳細摘要： 日本taisei機油診斷儀 ODS T-ODS-301特點 1. 簡單的初始設置2. 有溫度輸出 3.通過藍牙連接到智能手機4.數(shù)據(jù)圖顯示與智能手機應用程序 （...

詳細摘要： 日本taisei機油診斷儀 ODS　T-ODS-102預測性維護工具，將油的狀態(tài)量化為顏色變化并防止機器和設備故障