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詳細(xì)摘要： 日本excimer手持式自動(dòng)接觸角儀SImage測(cè)量方法，在樣品上放置一個(gè)方便的接觸角計(jì)。在測(cè)量點(diǎn)。滴水滴。從掉落的那一刻起，通過自動(dòng)檢測(cè)或手動(dòng)測(cè)量連續(xù)測(cè)量接觸...

詳細(xì)摘要： 日本futec平片表面檢查裝置MaxEye.Color期待已久的色彩檢查設(shè)備終于來了！彩色圖像和顏色辨別，以進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)高精度缺陷辨別階段。

詳細(xì)摘要： 日本issoku色散自動(dòng)檢查裝置ADIM輕觸按鈕即可測(cè)量添加的顆粒和材料顆粒的尺寸和分散度

詳細(xì)摘要： 日本issoku相對(duì)測(cè)量比較長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)2M-677●簡(jiǎn)單耐用的長(zhǎng)距離長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x?！窨捎糜趶墓ぷ鲌?chǎng)所到測(cè)量室的許多高精度測(cè)量應(yīng)用?！癞?dāng)一起測(cè)量相同尺寸的零件時(shí)，本...

詳細(xì)摘要： 日本issoku螺紋孔自動(dòng)檢查機(jī)Bee-1●自動(dòng)檢查M1.4至M10（等效）的出鐵孔。一次測(cè)量多可檢查50個(gè)螺孔?！裨诖蠹s2秒鐘內(nèi)檢查一個(gè)孔（M1.4深度3毫米...

詳細(xì)摘要： 日本issoku光學(xué)非接觸式小直徑內(nèi)徑測(cè)量?jī)xIDM-30EX/100EX任何人都可以立即以高精度和高速度進(jìn)行測(cè)量[易于與EX系統(tǒng)對(duì)齊。校準(zhǔn)環(huán)規(guī)和剪刀規(guī)的理想選擇...

詳細(xì)摘要： 日本hu-brain芯片零件六面圖像檢查設(shè)備觸摸屏使操作員易于操作。也可以通過更換零件來使用。您可以將檢查范圍設(shè)置為多邊形窗口中的每個(gè)角。

詳細(xì)摘要： 日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測(cè)設(shè)備可以高速且高精度地檢查在晶片工藝和切割工藝中出現(xiàn)的外觀缺陷?？梢詸z查各種圖案的芯片。對(duì)于每種產(chǎn)品類型，可以使用可變...

詳細(xì)摘要： 日本hu-brain顆粒粉末異物圖像檢查裝置出色的檢測(cè)能力（檢測(cè)精度為16.6 µm）緊湊型，結(jié)合了檢查箱和控制面板

詳細(xì)摘要： 日本sanko電磁膜厚計(jì)CTR-2000V◆日語鍵易于操作◆20,000個(gè)大容量?jī)?nèi)存◆校準(zhǔn)線注冊(cè)數(shù)量10

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詳細(xì)摘要： 日本nitta聲波皮帶張力計(jì)U508系列傳感器可以檢測(cè)皮帶產(chǎn)生的聲波（固有頻率），從而可以測(cè)量出準(zhǔn)確的皮帶張力。同步帶通過嚙合傳遞動(dòng)力，因此它們不需要摩擦傳遞帶...

詳細(xì)摘要： 日本清新betterseishin激光微米粒度儀LMS-3000 新的激光粒度分析儀/激光微米分級(jí)儀LMS-3000可與干型和濕型兼容，其緊湊的尺寸可提供出色的...

詳細(xì)摘要： 日本microdenshi電源監(jiān)控器PM10-DM監(jiān)控器監(jiān)控在波導(dǎo)中傳播的微波功率。您可以通過在檢查反射功率的同時(shí)調(diào)整EH調(diào)諧器來減少反射。

詳細(xì)摘要： 日本29精密機(jī)械futaku無損內(nèi)表面測(cè)量?jī)xArasamir對(duì)于醫(yī)療用分配噴嘴，如果用于預(yù)測(cè)試的樣品保留在噴嘴內(nèi)，則測(cè)試值將波動(dòng)，并且無法進(jìn)行準(zhǔn)確的樣品分析。分...

詳細(xì)摘要： 日本井上電子inoden停止性能測(cè)量?jī)xIDST-D型IDST-D型停止性能測(cè)量設(shè)備是一種用于測(cè)量并顯示具有突然停止機(jī)構(gòu)的動(dòng)力壓床突然停止時(shí)的大停止時(shí)間以及此時(shí)的...