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微光顯微鏡EMMI半導(dǎo)體芯片檢測(cè) 具有相同的原理和功能。兩種探測(cè)光子的傳感器都是由電子-空穴復(fù)合和熱載流子觸發(fā)的。

半導(dǎo)體芯片失效分析微光顯微鏡 是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來(lái)檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。

砷化鎵微光顯微鏡 是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來(lái)檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。

EMMI微光顯微鏡 具有相同的原理和功能。兩種探測(cè)光子的傳感器都是由電子-空穴復(fù)合和熱載流子觸發(fā)的。

微光顯微鏡 是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來(lái)檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。

EMMI半導(dǎo)體芯片檢測(cè)微光顯微鏡 是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來(lái)檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。

等離子體納米表面處理升級(jí)改造系統(tǒng) 等離子體改性強(qiáng)化換熱器服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調(diào)、制冷、生活熱水及熱電系統(tǒng)的換熱與冷凝。

薄膜熱膨脹系數(shù)測(cè)定儀 導(dǎo)熱系數(shù)是建筑材料最重要的熱濕物性參數(shù)之一，與建筑能耗、室內(nèi)環(huán)境及很多其他熱濕過(guò)程息息相關(guān)。

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng) 導(dǎo)熱系數(shù)是建筑材料最重要的熱濕物性參數(shù)之一，與建筑能耗、室內(nèi)環(huán)境及很多其他熱濕過(guò)程息息相關(guān)。

等離子體納米改良性升級(jí)系統(tǒng) 等離子體改性強(qiáng)化換熱器服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調(diào)、制冷、生活熱水及熱電系統(tǒng)的換熱與冷凝。

原子層沉積表面改造提升處理系統(tǒng) 存儲(chǔ)電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴(kuò)散勢(shì)壘區(qū)有機(jī)發(fā)光二極管和聚合物的無(wú)針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽(yáng)能電池

原子層沉積表面改性設(shè)備分子涂層 存儲(chǔ)電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴(kuò)散勢(shì)壘區(qū)有機(jī)發(fā)光二極管和聚合物的無(wú)針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽(yáng)能電池

ITC57300 IGBT半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)系統(tǒng) 是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。

ITC57300半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。

等離子體納米改性系統(tǒng) 等離子體改性強(qiáng)化換熱器服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調(diào)、制冷、生活熱水及熱電系統(tǒng)的換熱與冷凝。

供應(yīng)液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)箱 用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品...

液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)供應(yīng)商 用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食...

ITC57300IGBT分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。

半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)式參數(shù)測(cè)試儀 是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。

半導(dǎo)體SiC動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀 是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科領(lǐng)域的儀器。