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　　如今的設(shè)計通常非常復(fù)雜，在測試中需要多種激勵信號。泰克函數(shù)發(fā)生器具有標(biāo)準(zhǔn)波形、任意波形功能和信號損傷選項，通過一臺儀器來支持廣泛的應(yīng)用需求。強勁的函數(shù)發(fā)生器性能保證準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)信號。
 

　　任意波函數(shù)發(fā)生器
 

　　驗證連接 DUT 后輸出波形nstaView™ 技術(shù)用在任意波函數(shù)發(fā)生器上可直接查看連接 DUT 后的實時波形，無需使用示波器或其他設(shè)備，節(jié)省測試時間并避免因阻抗不匹配導(dǎo)致的實驗錯誤。一分鐘內(nèi)完成雙脈沖測試AFG31000 是一款包括內(nèi)置雙脈沖測試軟件的函數(shù)發(fā)生器。現(xiàn)在，您可以在一分鐘內(nèi)直接在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度(從 20 ns 到 150 µs)的波形。無需使用外部 PC 應(yīng)用程序或手動編輯。測量開關(guān)器件參數(shù)并評估MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動態(tài)性能。
 

　　高保真度信號與高級模式
 

　　打開包裝后，在連續(xù)模式下每通道可以生成高達 16 M 點的精確長波形。可變采集時鐘技術(shù)確保您不再丟失任何波形數(shù)據(jù)。產(chǎn)品功能可升級，您可以進一步提高測試水平并只需花費傳統(tǒng) AWG 十分之一的成本進行復(fù)雜波形的創(chuàng)建和編輯。
 

　　產(chǎn)品選配功能升級，您可以：
 

　　將內(nèi)存擴展為每通道 128 M 點(選件 MEM)
 

　　多達 25 項輸入和控制的序列/觸發(fā)/選通模式(選件 SEQ)用于：循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)、轉(zhuǎn)至、外部觸發(fā)輸入、手動觸發(fā)、定時觸發(fā)和 SCPI 命令，以便創(chuàng)建時序靈活、復(fù)雜的長波形。
 

　　簡化任意波形創(chuàng)建 內(nèi)置的 ARB 編輯工具 ArbBuilder 包括創(chuàng)建、編輯和傳輸任意波形的所有操作，無需連接 PC 或向 PC 傳輸文件。 幅度和偏置數(shù)據(jù)存儲在波形中，因此，在加載標(biāo)準(zhǔn)化 ARB 后，無需調(diào)整設(shè)置。
 

　　智能用戶界面 使用超大的 AFG 觸摸屏更快地學(xué)習(xí)和工作。 9 英寸的屏幕的工作原理和智能設(shè)備類似，因此，您可以通過手指縮放和滾動以便輕松找到設(shè)置和參數(shù)并查找常用設(shè)置的快捷鍵。如果您不止需要兩條波形通道來模擬被測設(shè)備 (DUT)，多臺同步設(shè)置用于快速同步兩臺或多臺設(shè)備。 通過屏幕向?qū)畔⒅笇?dǎo)您在三分鐘內(nèi)完成電纜連接和設(shè)置過程。