深圳辰儀科技將帶給您更多NOISEKEN高頻噪聲模擬試驗器選件請閱讀下面的詳細介紹。

三相耦合網(wǎng)絡 Model IJ-4050

- 本機器和高頻噪聲模擬試驗器組合，能夠進行AC415V 50A的3相5線（L1,L2,L3,N,PE）的高頻噪聲試驗。
- 差模、共模的耦合模式可簡單的通過接頭的切換來實現(xiàn)。
- 和INS-4020/4040組合時，可進行和EUT 線路同步的線路同步試驗。

規(guī)格/性能

EMS探頭套件 Model H2B

 
- 可利用高頻噪聲模擬試驗器向PCB板和帶狀線施加噪聲。
- 通過合理利用探頭可分別進行電場/磁場的近場輻射。
- 可在PCB板和線束等的任意部分施加噪聲
- 電場/磁場分別耦合，可探測各個薄弱環(huán)節(jié)。
- 含形狀、大小各異的電場探頭、磁場探頭各3個。
- 可在數(shù)mm范圍內(nèi)施加噪聲，可以找出薄弱部分
- 如波源用信號發(fā)生器，則可以探測特定頻率點的薄弱部分
- 可直接利用手頭已有的高頻噪聲模擬器

輸出面板（INS-AX2系列） 18-00069A/18-00070A/18-00071A

改變INS-AX2系列的線路輸出接頭的輸出面板。

輸出面板(INS-4020/4040） 18-00059C/18-00060B

改變INS-4020/4040的線路輸出接頭的輸出面板。

外部斷路器盒　18-00072A/73A

三角波發(fā)生模塊 02-00099A

- 安裝在INS-4020/4040的輸出端，無需主機的改造，就可以把方波脈沖改變?yōu)槿遣}沖的輸出。

耦合夾 CA-806（15-00007A)

CA-806和INS系列組合在一起使用，在把電子產(chǎn)品的線纜包夾后就可以進行抗干擾特性的試驗。

• 不切斷信號、DC、AC、GND等就可注入噪聲

• 可把電子產(chǎn)品的噪聲抗擾度分別分離后進行試驗

• 終端電阻內(nèi)置

耦合夾 CA-805B

CA-805B和INS系列組合在一起使用，在把電子產(chǎn)品的線纜包夾后就可以進行抗干擾特性的試驗。

• 不切斷信號、DC、AC、GND等就可注入噪聲

• 可把電子產(chǎn)品的噪聲抗擾度分別分離后進行試驗

• 由于可向信號線等直接注入噪聲，所以可高效地進行噪聲抗擾度試驗

• 可包夾最大外徑26mm的信號線束

耦合夾 CA-803A

CA-803A和INS系列組合在一起使用，在把電子產(chǎn)品的線纜包夾后就可以進行抗干擾特性的試驗。

• 不切斷信號、DC、AC、GND等就可注入噪聲

• 可把電子產(chǎn)品的噪聲抗擾度分別分離后進行試驗

• 可包夾最大外徑15mm的信號線束

• 終端電阻內(nèi)置

輻射探頭 01-00006A/07A/08A/09A/10A

本探頭和INS系列連接，可向電子產(chǎn)品內(nèi)部的配線（PC板）等施加電磁場輻射噪聲，從而探測電子產(chǎn)品對輻射噪聲的薄弱部分。

USB光模塊套件 07-00022A

-   試驗器通過PC自動控制時使用的轉(zhuǎn)換器

- USB－光轉(zhuǎn)換、帶5m光纖

- INS-AX2- 系列

波形觀測用衰減器 AT-810

CA-803A和INS系列組合在一起使用，在把電子產(chǎn)品的線纜包夾后就可以進行抗干擾特性的試驗。

• 不切斷信號、DC、AC、GND等就可注入噪聲

• 可把電子產(chǎn)品的噪聲抗擾度分別分離后進行試驗

• 可包夾最大外徑15mm的信號線束

• 終端電阻內(nèi)置

更多NOISEKEN高頻噪聲模擬試驗器選件及NOISEKEN產(chǎn)品盡在深圳辰儀科技。