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詳細摘要： UV-313/UV-340雙通道照度計適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

詳細摘要： UV-313/UV-340單通道紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用...

詳細摘要： UV-B型雙通道紫外輻照計光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正，數(shù)字液晶顯示，帶背光，可以手動/自動量程切換，適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻...

詳細摘要： UV-B型單通道紫外照度計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。

詳細摘要： UV-A型雙通道紫外輻照計光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正，數(shù)字液晶顯示，帶背光，可以手動/自動量程切換，適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻...

詳細摘要： UV-A型單通道紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。