產(chǎn)品綜述
6332A/B光回波損耗測試儀內(nèi)置2×2光開關(guān)，可快速實現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測模塊，實現(xiàn)光插入損耗準確測試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學和生產(chǎn)領(lǐng)域。

6332A/B光回波損耗測試儀

產(chǎn)品綜述

6332A/B光回波損耗測試儀內(nèi)置2×2光開關(guān)，可快速實現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測模塊，實現(xiàn)光插入損耗準確測試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學和生產(chǎn)領(lǐng)域。

功能特點

主要特點

  回損測量無需纏繞或使用匹配液

  適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回損測試，待測光纖跳線短至70cm

  全自動雙波長光插回損同時測試

  單向和雙向測試，縮短測試時間

  設(shè)定不同插回損閾值

  同時顯示插回損測試結(jié)果

  保存參考和待測的測試結(jié)果，測試裝置不變的話，可以直接調(diào)用保存的參考數(shù)據(jù)

回損測量無需纏繞或使用匹配液

 儀器采用光時域反射技術(shù)，區(qū)別于傳統(tǒng)的光連續(xù)波反射技術(shù)，相應(yīng)地避免了光回波損耗測量過程中的纏繞或者使用匹配液，提高了測試效率。

適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回損測試，待測光纖跳線短至70cm

不同型號儀器測試的回波損耗分別能低至14dB和高達80dB，這樣，可以根據(jù)產(chǎn)品回波損耗值來選擇不同型號的儀器。儀器設(shè)計了窄脈寬的激光器脈沖光驅(qū)動電路，當待測光回波損耗超過40dB時，待測光纖跳線可短至70cm。

全自動雙波長光插回損同時測試

 測試過程中，選中雙波長之后，參考測試可顯示雙波長的輸出光功率，待測件測試可顯示雙波長的光插入損耗和光回波損耗測試結(jié)果。

單向和雙向測試，縮短測試時間

 儀器通過內(nèi)置2×2光開關(guān)，可以從不同輸出端口輸出脈沖光，從而實現(xiàn)單雙向測試功能。雙向測試時，一次連接光纖跳線的兩個端面，一次測試即可測出跳線的光插入損耗和這兩個端面的光回波損耗，從而使測試時間減半。

設(shè)定不同插回損閾值

       進入儀器設(shè)置測試條件界面，在插入損耗閾值和回波損耗閾值后面的窗口中輸入相應(yīng)的數(shù)值，那么在測試結(jié)果中插入損耗高于閾值和回波損耗低于閾值會顯示為紅色，其他為藍色。

 

典型應(yīng)用

如下圖所示，使用6332A/B光回波損耗測試儀同時測試FC/APC—FC/APC型跳線的光插入損耗和光回波損耗。

對6332A/B光回波損耗測試儀進行參考測試之后，接入待測跳線，點擊測試鍵，即可測出待測光纖跳線的光插入損耗和光回波損耗。