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臺式X射線熒光光譜儀

XRF射線裝置利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。樣品被來自射線管的射線轟擊，產(chǎn)生熒光。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

能量分辨率、檢測效率和魯棒性是與檢測器相關(guān)的三個因素。 能量分辨率是分離具有小能量差的兩個光子的能力。 檢測效率是指 X 射線記錄的效率。我們提供的 XRF 系統(tǒng)使用硅漂移探測器的固態(tài)探測器技術(shù)。

當(dāng)樣品的熒光被收集，配套應(yīng)用軟件會將測量的X射線強度轉(zhuǎn)為厚度和成分。軟件包通常包含兩部分，波譜處理和定量分析。

臺式X射線 熒光光譜儀 智能化設(shè)計，強大的分析：

幾秒內(nèi)完成金屬鍍層無損分析

成分分析可達(dá)25種元素

同時測量多達(dá)五個涂層，所有涂層都可以是合金

基礎(chǔ)參數(shù)法 - 半定量分析厚度與成分

輕松設(shè)置和操作 - 通過USB完成連接

簡潔的前控制面板

占地面積小，節(jié)約空間

輕量化設(shè)計，便于移動

臺式X射線 熒光光譜儀 直觀的用戶界面：

提供分析靈活性，同時減少用戶出錯機會

專業(yè)的 Archer  軟件

直觀的圖標(biāo)引導(dǎo)用戶界面

強大的定性/無標(biāo)樣分析功能

功能強大的標(biāo)準(zhǔn)片庫

可定制快捷鍵，方便操作

靈活的數(shù)據(jù)顯示和導(dǎo)出

強大的報告編輯生成器

臺式X射線熒光光譜儀 性能，強大，便利：

緊密耦合的幾何設(shè)計極大提高測量效率和精度

經(jīng)驗證的固態(tài)探測器可提供更高的分辨率，穩(wěn)定性和靈敏度

儀器預(yù)熱時間短，X射線管燈絲壽命長

可實現(xiàn)銀、錫的L線薄膜分析

多位置一次濾波器與多規(guī)格準(zhǔn)直器可供選擇

靈活的焦距為復(fù)雜形狀或厚度較大的樣品提供測量便利

模塊化組件設(shè)計，維護簡單