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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
,帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
,帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀 三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,HyperQVWLI 606帶白光干涉復(fù)合型高精度3D測(cè)量影像儀,可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復(fù)合型高精度3D測(cè)量系統(tǒng)。
可根據(jù)WLI光學(xué)系統(tǒng)獲取的3D數(shù)據(jù)進(jìn)行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據(jù)3D數(shù)據(jù)進(jìn)行指定高度的尺寸測(cè)量和截面形狀測(cè)量。
產(chǎn)品陣容
型號(hào)
測(cè)量范圍：
X軸最大（mm） Y軸最大（mm） Z軸最大（mm）
Hyper QVWLI 302 300 200 190
Hyper QVWLI 404 400 400 240
Hyper QVWLI 606 600 650 220
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