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參考價(jià)	面議

弱吸收儀

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀

共光路干涉吸收儀

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,道路/軌道/船舶

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

詳細(xì)介紹

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀測量意義

在高功率激光系統(tǒng)中，光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會(huì)引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題：
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值的一個(gè)重要指標(biāo)

原理示意圖

此系統(tǒng)采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

LID技術(shù)參數(shù)一覽表

項(xiàng)目	LID
儀器原理	光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)
Pump激光器	UV到IR常見激光波長任選光束質(zhì)量要求不高，可以同時(shí)配置多臺(tái)激光器不同波長光路切換簡單
Probe激光器	LD 640nm
儀器校準(zhǔn)	電極校準(zhǔn) 體吸收:樣品中間鉆孔放置棒型熱敏電面吸收:表面放置熱敏電阻
測試項(xiàng)目	體吸收、HR及AR膜吸收

LID與PCI比較一覽表

項(xiàng)目	LID
樣品屬性要求	任何未知樣品或已知樣品
測試結(jié)果	吸收系數(shù)是絕對值
區(qū)分面、體吸收	可以
樣品規(guī)格	方形，且四面拋光（采用sandwich模塊只需兩面拋光）；圓形：厚度1mm，φ25.4mm min:3x3x3mm（采用sandwich模塊）通常：20x20x10mm
靈敏度	面吸收:0.1ppm 體吸收:0.1ppm/cm
測量速度	40min/片

LID校準(zhǔn)-電極校準(zhǔn)

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀

采用電極校準(zhǔn)得出校正因子Fcal， Ilid 為信號(hào)強(qiáng)度，Pl 為pump光功率。

特點(diǎn)：是無需了解樣品材料的特性，便可提供獨(dú)立校準(zhǔn)。如果改變光熱偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)裝置，需要客戶自己插入和連接校準(zhǔn)樣品，利用軟件完成自動(dòng)校準(zhǔn)。