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　　在同一臺儀器中采用四個(gè)光彈性調(diào)制器(PEM)，150XT Mueller偏振計(jì)可以在短時(shí)間內(nèi)同時(shí)測量十六個(gè)穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產(chǎn)品系列的這一新增功能可應(yīng)用于學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、光學(xué)元件特性、制造和質(zhì)量控制。 承包系統(tǒng)在各種光學(xué)、化學(xué)和生物化學(xué)樣品中繪制出線性延遲、圓形延遲(或旋光)、線性二次衰減和圓形二次衰減。

　　靈敏度和重復(fù)性

　　使用Hinds儀器公司的PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個(gè)完整的穆勒偏振計(jì)提供了高靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以幾十千赫的速率調(diào)制。靈敏度和重復(fù)性可輕松提供亞納米水平的線性和圓形雙折射測量結(jié)果，以及線性和圓形二次衰減的亞百分比測定，這對于許多應(yīng)用很重要。

　　精心設(shè)計(jì)，操作簡單，直觀

　　一個(gè)大至6“x 6"(150mm x 150mm;更大尺寸可選)的樣品可以手動或自動繪制并以圖形方式顯示。 一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導(dǎo)操作員完成步驟測量過程。 用戶界面軟件可計(jì)算線性延遲值、圓形延遲值、線性衰減值和圓形衰減值，并以各種格式顯示它們。 該軟件還提供文件管理和校準(zhǔn)功能。 在可選模式中，樣本可以相對測量光束傾斜，而不是在XY 平臺移動，使用自動旋轉(zhuǎn)器或旋轉(zhuǎn)器生成產(chǎn)所有十六個(gè)Mueller矩陣元素的角映射和樣本的所有偏振屬性。

　　Mueller偏振計(jì)測量了通過正在研究的光學(xué)樣品的光學(xué)路徑集成的偏振特性。一束氦氖激光光束被偏振化，然后由前兩個(gè)脈沖編碼調(diào)制。調(diào)制光束通過樣品傳輸，然后通過另外兩個(gè)PEM的組合，一個(gè)分析器和一個(gè)光電探測器。電子信號是通過傅立葉分析捕獲的波形(鎖定選項(xiàng)可用于更低級別的信號檢測)來處理的。一種由紐約大學(xué)和Hinds儀器合作開發(fā)的軟件算法，將電子模塊中的信號電平轉(zhuǎn)換成16個(gè)Mueller矩陣元素和樣品的特性，當(dāng)在自動映射模式下工作時(shí)，x-y平移階段將樣本移動到下一個(gè)預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶需求的格式即時(shí)顯示。　

　　穆勒矩陣測量系統(tǒng)主要特點(diǎn)：

　　在全Mueller偏振計(jì)中具有高靈敏度

　　同時(shí)測量所有十六個(gè)Mueller矩陣元素

　　同時(shí)測量完整的偏振特性

　　準(zhǔn)確重復(fù)性

　　高速測量

　　光學(xué)系統(tǒng)中無移動部件

　　可變尺寸光學(xué)元件的自動映射

　　光彈調(diào)制器技術(shù)

　　簡單、便于用戶使用的操作　　

　　學(xué)術(shù)和工業(yè)研究

　　質(zhì)量控制計(jì)量

　　測量完整的偏振特性

　　具有復(fù)雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的光學(xué)元件

　　激光晶體

　　具有復(fù)雜圖層的液晶顯示器

　　非晶態(tài)晶體

　　各向異性晶體

　　化學(xué)和生物各向異性光學(xué)材料

　　由電場或磁場引起的各向異性