目錄:山東恒美電子科技有限公司>>儀器儀表>>數(shù)顯硅酸根分析儀>> 數(shù)顯式硅酸根分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|
數(shù)顯式硅酸根分析儀具有不工作時的待機功能，對光源采取了有效的保護，可以連續(xù)的運行在現(xiàn)場環(huán)境。檢測元件的恒溫環(huán)境使得儀器的穩(wěn)定性更具的保證。
型號 | GXF-215B數(shù)顯式硅酸根分析儀 (高精度) | GXF-215C硅酸根分析儀 |
測量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | 0~199.9μg/LSiO2 |
基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
重復(fù)性誤差 | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
短期漂移 （30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ≤±0.5%FS |
長期漂移 (24小時） | ≤±2.0μg/L | ≤±2.5%FS |
化學(xué)方法 | 硅鉬蘭光度法 GB 12150—89 | |
12
化工儀器網(wǎng)