致茂10通道繞線元件脈沖測試器Chroma 19305-10的產(chǎn)品說明：
Chroma 19305-10為繞線元件脈沖測試器，系列機種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測試，zui高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測能力，10uH感量以上產(chǎn)品測試，擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動總量 (Flutter) 及波形二階微分數(shù) (Laplacian) 等判定方法.

主要特色：

• 脈沖測試高取樣率(200MHz)
• 6kV 可程式脈沖測試
• 崩潰電壓分析
• 高速測試
• 單機zui大10通道掃描測試(19305-10)
• 可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)
• 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
• USB波形儲存& 畫面擷取功能
• 圖形化彩色顯示
• 標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面

致茂10通道繞線元件脈沖測試器Chroma 19305-10的技術(shù)說明：

Chroma 19305-10為繞線元件脈沖測試器，系列機種包含19305單通道及19305-10 10通道輸出測試，zui高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率 提高放電檢測能力，10uH感量以上產(chǎn)品測試，擁 有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動總量 (Flutter) 及波形二階微分數(shù) (Laplacian) 等判定 方法，可有效檢測線圈自體絕緣不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測包含電氣特性、電氣安規(guī)耐 壓進行測試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成 線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出 腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起， 故加入線圈層間短路測試有其必要性。

所謂的『繞線元件脈沖測試』基本上是以一『非 破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物 上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等 效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測 試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之 缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發(fā)覺之部分放 電等。

Chroma 19305-10為針對繞線元件測試需求所設(shè) 計，利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與 待測線圈形成RLC并連諧振，由諧振之衰減波形， 透過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗出 線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、 電感等繞線產(chǎn)品進行層間短路測試，讓繞線元件 生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗證時，不但擁有可靠 的測試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19305-10對于產(chǎn)線上的測試需求提供多 通道掃描應(yīng)用(zui大10通道) ，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成 本。

四種波形判定模式

• 波形面積比較 (Area Size)
• 波形面積差比較 (Differential Area)
• 波形顫動總量 (Flutter Value)
• 波形二階微分數(shù) (Laplacian Value)

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