目錄:北京菲斯泰克科技有限公司>>波長色散X熒光分析儀>> ZSX Primus IVi下照式順序波長色散X熒光分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,綜合 |
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下照式高性能WDXRF可實現(xiàn)對液體、合金和電鍍金屬等樣品的無損分析。ZSX Primus IVi具有桌越的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性。WDXRF光譜儀具有一個30微米的鈹窗，這是業(yè)內(nèi)最薄的鈹窗，具有桌越的輕元素檢測限。
輔助測量和分析支持:ZSX Guidance：自動分析設(shè)置具有增強的第三代SQX分析軟件
ZSX制導(dǎo)軟件：內(nèi)置的XRF技術(shù)可以處理復(fù)雜的設(shè)置?？捎玫膽?yīng)用程序包支持交鑰匙操作。
直觀的軟件可編程，使用樣品托盤進行日常分析： 每個托盤的樣品ID設(shè)置(便于簡單的復(fù)制和粘貼，以實現(xiàn)高效的測量設(shè)置)。
提高液體樣品分析的準(zhǔn)確性 修正由液體樣品杯的幾何形狀引起的幾何效應(yīng)。
高速、高精度測量：新驅(qū)動順序的效率降低了儀器開銷時間
特的功能：下照式光學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)了方便的功能，包括新的樣品膠片校正。
由于光譜儀腔室始終處于真空狀態(tài)，所以從真空氣氛到氦氣氣氛的變化在不到兩分鐘的時間內(nèi)完成。此外，與必須凈化光譜儀室的型號相比，氦氣的消耗顯著減少。
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