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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	地礦,能源,電子/電池,綜合

Vanta Element手持式XRF系列分析儀可以對(duì)元素進(jìn)行分析，可以實(shí)惠的價(jià)格快速完成合金牌號(hào)的辨別和分揀。這個(gè)系列有兩個(gè)高性價(jià)比型號(hào)：

Vanta Element分析儀可以實(shí)惠的價(jià)格完成合金辨別
Vanta Element-S分析儀可以實(shí)惠的價(jià)格完成合金辨別，并探測(cè)到包含鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）在內(nèi)的輕元素

兩種型號(hào)的分析儀都可以快速辨別合金牌號(hào)，并在屏幕上清楚地顯示牌號(hào)對(duì)比信息，從而可加速金屬檢測(cè)，有效完成廢料分揀、金屬制造和貴金屬分析等應(yīng)用。

類似于智能手機(jī)的用戶界面，易于學(xué)習(xí)，使用方便，有助于簡(jiǎn)化用戶的培訓(xùn)過程和分揀過程。

	Vanta Element型號(hào)	Vanta Element-S型號(hào)
用途	以經(jīng)濟(jì)的成本完成合金的辨別	以經(jīng)濟(jì)的成本完成輕元素的探測(cè)
擅長(zhǎng)	快速基本的分析	分析鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）
探測(cè)器	PIN	硅漂移探測(cè)器（SDD）
窗口	厚聚酰亞胺窗口	聚丙烯紡織纖維（Prolene）窗口，帶有聚酰亞胺網(wǎng)格背襯
激勵(lì)源	2瓦特X射線管，35 kV鎢（W）陽(yáng)極靶材	4瓦特X射線管，50 kV銀（Ag）陽(yáng)極靶材

XRF分析儀的高級(jí)特性 Vanta Element系列分析儀具有連通性能，有助于簡(jiǎn)化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。準(zhǔn)確且具有重復(fù)性的結(jié)果 Vanta分析儀的電子部件 Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計(jì)數(shù)率方便的數(shù)據(jù)管理具有無(wú)線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中使用奧林巴斯的科學(xué)云可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù) 直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤中用于存儲(chǔ)結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡

XRF分析儀的高級(jí)特性

Vanta Element系列分析儀具有連通性能，有助于簡(jiǎn)化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。

具有無(wú)線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學(xué)云可以實(shí)現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，并可實(shí)時(shí)以遠(yuǎn)程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到USB驅(qū)動(dòng)盤中
用于存儲(chǔ)結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡

	堅(jiān)固耐用且經(jīng)濟(jì)實(shí)用的手持式XRF分析儀這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，具有防塵和防潮的特性。通過了墜落測(cè)試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時(shí)受到損壞，從而減少了對(duì)分析儀進(jìn)行高成本維修的需求。經(jīng)過評(píng)定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進(jìn)行檢測(cè)。防磨不銹鋼面板。無(wú)需使用工具即可方便地更換窗口。

這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。