掃描透射探測器 參考價：面議
掃描透射探測器是將透射電鏡（TEMs）和掃描電鏡（SEM）原理相結(jié)合的電子顯微鏡。它可以部分實現(xiàn)透射電子顯微鏡（TEM）的應(yīng)用。STEM 探測器利用透射電子反映...
背散射電子探測器 參考價：面議
背散射電子探測器取決于試樣的平均原子序數(shù)，平均原子序數(shù)大的區(qū)域比平均原子序數(shù)小的區(qū)域更亮。因此，背散射電子圖像反映樣品的成分襯度。
二次電子探測器 參考價：面議
二次電子探測器是指從試樣表面淺處（深度為幾 nm）發(fā)射出的低能量電子，故而能對樣品表面形貌呈高分辨率圖像。二次電子是由入射電子與試樣發(fā)生非彈性散射而產(chǎn)生，能量低...
TIMA-X 綜合礦物分析儀 參考價：面議
TIMA-X 綜合礦物分析儀是一款自動化礦物分析系統(tǒng)，可用于如巖石、礦石、精礦、尾礦、浸出渣或冶煉產(chǎn)品等的快速定量分析。
FERA3雙束掃描電鏡 參考價：面議
FERA3雙束掃描電鏡離子束流高達(dá) 2 µA，因此其濺射速度是傳統(tǒng) Ga 離子源的 50 倍以上，這使得 FERA3 成為完成耗時過長或幾乎不可能實現(xiàn)...
GAIA3掃描電鏡 參考價：面議
GAIA3掃描電鏡是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計應(yīng)用的理想平臺，它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質(zhì)量超薄 TEM 樣品制備、在技術(shù)節(jié)點減少流程、精確...
XEIA3掃描電鏡 參考價：面議
XEIA3掃描電鏡集非凡的超高分辨成像能力和優(yōu)異的微細(xì)加工于一體。強(qiáng)大且超快速的微/納米 FIB 加工、低能電子束下的超高分辨率（UHR）、超快且可靠的微量分析...
LYRA3掃描電鏡 參考價：面議
LYRA3掃描電鏡是一款集高分辨率 FE-SEM 鏡筒和多功能的高性能 Ga 離子源 FIB 于一體的雙束掃描電鏡，是切割橫斷面、定位制備高質(zhì)量TEM樣品以及高...
TESCAN S8000G掃描電鏡 參考價：面議
TESCAN S8000G掃描電鏡是一款 FIB-SEM 系統(tǒng)，滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求，它可以提供的圖像質(zhì)量，可完成復(fù)雜的納米操作并保證的精度和...
TESCAN S9000G掃描電鏡 參考價：面議
TESCAN S9000G掃描電鏡 是一款鎵離子源的 FIB-SEM 系統(tǒng)，適用于超薄 TEM 樣品制備和其它具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務(wù)，這些任務(wù)要求設(shè)備具有分辨...
VEGA3掃描電子顯微鏡 參考價：面議
VEGA3掃描電子顯微鏡是 TESCAN 公司推出的*款掃描電子顯微鏡系列，經(jīng)過 16 年的不斷研發(fā)改進(jìn)，如今已是成熟的第三代產(chǎn)品。歷經(jīng)多年市場考驗，VEGA ...
MIRA3掃描電鏡 參考價：面議
MIRA3掃描電鏡配備有高亮度肖特基電子槍，以獲得高分辨及低噪聲成像。MIRA3 為用戶提供優(yōu)秀的掃描電鏡使用體驗，擁有更快的圖像采集速度，超快速的靜態(tài)和動態(tài)圖...
MAIA3掃描電子顯微鏡 參考價：面議
MAIA3掃描電子顯微鏡在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。這對于納米材料的綜合表征，半導(dǎo)體工業(yè)中對電子束敏感樣品及未鍍膜的生物樣品等非導(dǎo)電樣品的成像都非常適...
TESCAN S8000場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
TESCAN S8000場發(fā)射掃描電鏡具有超高的分辨率和強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力。能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求。TESCAN BrightBeam&trade...
TESCAN S9000分析儀 參考價：面議
TESCAN S9000分析儀是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進(jìn)行微觀分析。TESCAN S9000采用 Triglav™...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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