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西克用光譜測(cè)量！OC Sharp納米級(jí)激光距離傳感器上市
閱讀：376 發(fā)布時(shí)間：2015-12-30西克用光譜測(cè)量！OC Sharp納米級(jí)激光距離傳感器上市
納米級(jí)光譜共焦法位移傳感器 OC Sharp 上市了！
OC Sharp屬于短距離激光測(cè)距（也叫位移傳感器）產(chǎn)品，其測(cè)量基于“光譜分析”原理，是和原OD系列采用的“三角測(cè)量法”原理*不同的技術(shù)。SICK提供“光譜共焦”和“光譜干涉”2種測(cè)量原理的測(cè)量頭，精度可以達(dá)到納米（10-9米）級(jí)（即分子水平），是目前zui高精度的非接觸式測(cè)量傳感器之一。全新“光譜分析”技術(shù)保證可以適應(yīng)任何顏色的被測(cè)物，其測(cè)量頭是純機(jī)械結(jié)構(gòu)的光學(xué)部件，不含電子元器件，杜絕電磁干擾和高溫影響。同時(shí)，它使用的是白色直射可見(jiàn)光，適應(yīng)弧面和深孔等測(cè)量應(yīng)用。
基于以上優(yōu)異的產(chǎn)品特性，OC Sharp十分適用于電子和太陽(yáng)能行業(yè)中半導(dǎo)體硅片表面晶相測(cè)量，制藥行業(yè)中試管內(nèi)藥物液位高精度測(cè)量，玻璃行業(yè)中玻璃高精度測(cè)厚，以及包裝等行業(yè)中薄膜測(cè)厚。
