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E+H雷達物位計分類
閱讀：1045 發(fā)布時間：2015-2-5雷達物位計分類
雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產(chǎn)品，主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。
恩格斯豪斯雷達物位計
雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和的測量。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應(yīng)用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
e+h導波雷達物位計
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質(zhì)后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調(diào)整，從而節(jié)省了大量調(diào)試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應(yīng)現(xiàn)場的應(yīng)用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質(zhì)特性變化的影響，被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。粘附：沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。容器內(nèi)安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內(nèi)安裝物的影響，不需要特殊調(diào)試?？梢蕴峁┎煌问降奶筋^用于不同應(yīng)用：纜式，用于測量液體介質(zhì)或重量大的固體介質(zhì)，量程可達60米；棒式，用于測量液體介質(zhì)或重量輕的固體介質(zhì)，量程可達6米；同軸套管，用于測量低黏度的介質(zhì)，不受過程條件的影響，量程可達6米。