超平有孔碳支持膜C-flat™ Holey Carbon Grids for TEM

C-flat™是Z適于低溫透射電鏡（cryo-TEM）用的一種新款多孔碳支持膜。C-flat™具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射電鏡的銅網(wǎng)上。C-flat™采用整體制造工藝，到達客戶手中的產(chǎn)品保證整潔，無任何多余的碳膜渣殘留。

超平有孔碳支持膜C-flat™ Holey Carbon Grids for TEM

    C-flat™是zui適于低溫透射電鏡（cryo-TEM）用的一種新款多孔碳支持膜。C-flat™具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射電鏡的銅網(wǎng)上。C-flat™采用整體制造工藝，到達客戶手中的產(chǎn)品保證整潔，無任何多余的碳膜渣殘留。

特性：

    技術(shù)制造，超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻，為冰層厚度均勻打下良好的基礎。膜上的花樣孔采用深紫外光刻印制技術(shù)，確保了孔大小的精確（精確至微米級別）；同時確保了孔型的連續(xù)性，精細的制造技術(shù)*消除了多于的碳和碳膜孔產(chǎn)生的邊角料。

超平有孔碳支持膜應用：

    C-flat™有孔碳支持膜對利用低溫透射電鏡獲得高分辨率的數(shù)據(jù)信息提供了非常理想的樣品支撐。主要應用于以下兩個方面：

1．  低溫電子斷層掃描術(shù)（cryo-ET）和單一微粒分析（single particle analysis，SPA）

大量的科學研究人員報道，C-flat™超平的膜表面使得研究對象更均勻的分布膜上孔區(qū)域，膜上冰層厚度的均一性也大大提高。與其它有孔碳膜相比，*的微粒分布特性可以采集到的數(shù)據(jù)信息。膜上標準的孔大小為2µm，同時提供的還有其它大小的孔徑，也可以根據(jù)你的需要定制，因此C-flat™可在普通放大倍率下進行TEM定量分析。

2．  自動化低溫透射電鏡（automated TEM）

C-flat™分析位點的規(guī)則排列（以及微粒分布均勻和冰層厚的均一），可以使用Leginon軟件進行信息的自動控制和采集，兩者可以兼容。

產(chǎn)品訂購信息：

產(chǎn)品型號	貨號	孔徑大小	孔距	銅網(wǎng)規(guī)格	包裝規(guī)格
CF-1.2/1.3-2C	CF213-25	1.2 µm	1.3 µm	200目	25/pk.
CF-1.2/1.3-4C	CF413-25	1.2 µm	1.3 µm	400	25/pk.
CF-2/0.5-2C	CF205-25	2.0 µm	0.5 µm	200	25/pk.
CF-2/0.5-4C	CF405-25	2.0 µm	0.5 µm	400	25/pk.
CF-2/1-2C	CF212-25	2.0 µm	1.0 µm	200	25/pk.
CF-2/1-4C	CF412-25	2.0 µm	1.0 µm	400	25/pk.
CF-2/2-2C	CF-222C-25	2.0 µm	2.0 µm	200	25/pk.
CF-2/2-4C	CF-224C-25	2.0 µm	2.0 µm	400	25/pk.
CF-2/4-2C	CF242-25	2.0 µm	4.0 µm	200	25/pk.
CF-2/4-4C	CF442-25	2.0 µm	4.0 µm	400	25/pk.
CF-4/1-2C	CF241-25	4.0 µm	1.0 µm	200	25/pk.
CF-4/1-4C	CF441-25	4.0 µm	1.0 µm	400	25/pk.
CF-4/2-2C	CF422-25	4.0 µm	2.0 µm	200	25/pk.
CF-4/2-4C	CF424-25	4.0 µm	2.0 µm	400	25/pk.
CF-MH-2C	CF2MH-25	Multihole*		200	25/pk.
CF-MH-4C	CF4MH-25	Multihole*		400	25/pk.
CF-1/1-2C	CF21-25	1.0 µm	1.0 µm	200	25/pk.
CF-1/1-4C	CF41-25	1.0 µm	1.0 µm	400	25/pk.