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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>集成電路測試與分選設(shè)備>信號測試系統(tǒng)/半導(dǎo)體測試機(jī)>BW-3010A 半導(dǎo)體分立器件光耦測試系統(tǒng)

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BW-3010A 半導(dǎo)體分立器件光耦測試系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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陜西博微電通科技有限責(zé)任公司是一家致力于高精度半導(dǎo)體測試設(shè)備、電力電子設(shè)備、電池安全管理系統(tǒng)及電力儲能解決方案的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技企業(yè)。

公司位于古城西安西咸新區(qū)灃東新城能源金貿(mào)區(qū),地理位置環(huán)境*,依托西安眾多高校及研究所,公司擁有一批高素質(zhì)人才隊伍,從軟件開發(fā)、硬件設(shè)計、系統(tǒng)集成、產(chǎn)品升級迭代及售后服務(wù)均由專業(yè)技術(shù)人員完成,多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業(yè)合作開發(fā)出針對半導(dǎo)體測試、電力電子、能源管理系統(tǒng)系列產(chǎn)品,經(jīng)過技術(shù)迭代,產(chǎn)品功能全面,產(chǎn)品質(zhì)量可靠,市場口碑優(yōu)秀。

   公司注重產(chǎn)品質(zhì)量,注重客戶服務(wù)滿意度及產(chǎn)品體驗,每一款產(chǎn)品出廠前都經(jīng)過嚴(yán)格的檢驗或第三方機(jī)構(gòu)監(jiān)測,并持續(xù)優(yōu)化產(chǎn)品功能、根據(jù)客戶需求定制或迭代升級產(chǎn)品。我們秉承“博厚共贏、服務(wù)入微”理念竭誠為每一位客戶提供可靠的、高品質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),幫助解決客戶實際使用痛點,開發(fā)難點,節(jié)約生產(chǎn)成本提高工作效率,助力行業(yè)發(fā)展。

半導(dǎo)體測試系統(tǒng):(Semiconductor test system)

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導(dǎo)體測試產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)測試計量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學(xué)、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈的來料檢驗、器件選型及科研及院所、實驗室的數(shù)據(jù)驗證分析和研發(fā)指導(dǎo)等。

半導(dǎo)體測試設(shè)備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進(jìn)行高精度靜態(tài)參數(shù)測試(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))測試精度可達(dá)16位ADC;動態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環(huán)境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環(huán)PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導(dǎo)體器件測試設(shè)備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數(shù)測試SCR、安全工作區(qū)正偏/反偏/短路安全工作區(qū)測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機(jī)系統(tǒng)等。

電池安全管理及儲能:(Battery safety management and energy storage system)

電池安全管理系統(tǒng)主要是針對電池、蓄電池組、儲能系統(tǒng)安全及應(yīng)用電池全生命周期系統(tǒng)解決方案,主要產(chǎn)品覆蓋儲能電池BMS、后備電池BMS、動力電池BMS和電池監(jiān)控數(shù)據(jù)平臺等,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于儲能,云計算,數(shù)據(jù)中心,通信網(wǎng)絡(luò),軌道交通,以及商業(yè)和工業(yè)設(shè)施關(guān)鍵電源領(lǐng)域,將成為國家綠色能源轉(zhuǎn)型重要系統(tǒng)保障。

 

 

半導(dǎo)體測試設(shè)備,功率器件可靠性測試,熱特性安全測試,儲能及電力能源安全管理系統(tǒng)

BW-3010A

光藕參數(shù)測試儀

品牌: 博微電通

名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀

型號: BW-3010A

用途: BW-3010A型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試

BW-3010A產(chǎn)品介紹:

BW-3010A型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試,BW-3010A為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設(shè)置,測試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,操作簡便,實用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù):

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:BW-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀;

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量:<4.5Kg

主機(jī)顏色:白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

     工作時間:連續(xù);



服務(wù)領(lǐng)域:

半導(dǎo)體分立器件光耦測試系統(tǒng)

應(yīng)用場景:

   ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)

   ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

產(chǎn)品特點:

   ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

   ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號數(shù).

   ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

   ?內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

   ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1500V;

   ?重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題;

   ?軟件自校準(zhǔn)功能;

   ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試;

   ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;

   ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

        BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對應(yīng)關(guān)系

型號類型

P1

T1

P2

T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測試端

K

K測試端

E

E測試端

C

C測試端

   

                                    BW-3010A測試技術(shù)指標(biāo):

1、 耐壓(VCEO)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

2、輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

3、反向漏電流(ICEO)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

4、電流傳輸比(CTR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE0-20V

IF:0-100MA

5、輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-1.000A

IF:0-1.000A

6、極性識別方式:自動極性轉(zhuǎn)向測試   (自動識別方向)

7、 可分檔位總數(shù):10         

 BW-3010A測試定義與規(guī)范:

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時輸出端的測試電流。





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