ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

HED-W5100D

全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)

l 最高支持12英寸 300mm晶圓ESD測(cè)試方案

l 測(cè)試效率高，自動(dòng)探針臺(tái)和晶圓映射程序啟用了全自動(dòng)晶圓級(jí)ESD測(cè)試

l 同時(shí)支持package測(cè)試

l   配備CCD相機(jī)

l   可以與Hanwa TLP測(cè)試儀，HED-T5000和T5000VF
l   Woks 集成在一起，作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級(jí)測(cè)試儀。
l   SCM（10pF浪涌）選項(xiàng)可用。

公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測(cè)試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括：探針臺(tái)系統(tǒng)制造商MPI；世界微波組件和測(cè)試系統(tǒng)制造商MAURY；測(cè)量?jī)x器制造商KEYSIGHT；的模型服務(wù)商Modelithics；EDS設(shè)備日本HANWA和TOTOKU等。憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)