菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER XDL230信息

來源：篤摯儀器（上海）有限公司 2025年04月29日 17:01

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。該儀器具備以下顯著優(yōu)勢(shì)：

應(yīng)用領(lǐng)域廣泛：適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)可檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
性能穩(wěn)定可靠：擁有良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，大幅減少儀器校準(zhǔn)頻率；比例接收器實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，保障高精度測(cè)量。
測(cè)量方法先進(jìn)：采用FISCHER基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)，還是固體和液體樣品，無需標(biāo)準(zhǔn)片即可進(jìn)行測(cè)量和分析。

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