菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點(diǎn)
用途廣泛的鍍層厚度測(cè)量
通過(guò)組合高壓和濾片,可精準(zhǔn)測(cè)量極薄(如50 nm Au)至較厚(如100 μm Sn)的鍍層,覆蓋多種厚度需求 。
高精度微聚焦技術(shù)
配備微聚焦X射線(xiàn)管,最小測(cè)量點(diǎn)可達(dá)100 μm,適用于微小結(jié)構(gòu)(如連接器、觸點(diǎn))的精細(xì)檢測(cè) 。
高效計(jì)數(shù)率與穩(wěn)定性
比例計(jì)數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps(每秒計(jì)數(shù)率),確??焖贉y(cè)量和良好的重復(fù)精度,即使短時(shí)間測(cè)量也能保證結(jié)果可靠性 。
便捷的樣品放置設(shè)計(jì)
X射線(xiàn)源位于測(cè)量艙底部,射線(xiàn)方向從下至上,結(jié)合大容量C型開(kāi)槽艙體,便于放置大尺寸或扁平樣品(如印刷線(xiàn)路板) 。
靈活的測(cè)量配置
支持手動(dòng)或自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾片,適應(yīng)不同鍍層材料和結(jié)構(gòu)(如多層鍍層、同元素鍍種)
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