為世界各地的“制造業(yè)”做出貢獻。--日本CCS光源株式會社
通過“照明解決方案”, 為世界各地的“制造業(yè)”做出貢獻。
CCS 以自成立以來積攢下的專有技能和技術(shù)經(jīng)驗為基礎(chǔ), 通過對光的波長、照射距離、照射角度等各種元素進行搭配結(jié)合,
為您提供*佳光環(huán)境的“照明解決方案”
日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)的主要產(chǎn)品有:
1、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)環(huán)形光源:
LDR2系列
從形成角度的發(fā)光部照射直射光。
用途:字符識別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 二維代碼讀取等
LDR2-LA系列
從形成角度的發(fā)光部低角度照射直射光。
用途: 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、 異物混入檢測等
LDR-LA1系列
從水平方向的發(fā)光部低角度照射直射光。
用途: 金屬表面的刻印、損傷與污垢檢測、 異物混入檢測等
SQR系列
從上方照射直射光。
用途: 字符識別、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 二維代碼讀取等
SQR-TP系列
從形成角度的發(fā)光部低角度照射直射光。
用途:金屬零件的外觀檢測、損傷與污垢檢測等
HLDR-IP系列
照射通過鏡頭集光的擴散光。
用途: 金屬零件的缺陷檢測、橡膠零件的外觀檢測、 粘合劑涂抹狀態(tài)檢測(UV)等
HPR2系列
采用**的照射結(jié)構(gòu)實現(xiàn)高自由度的均勻范圍。
用途: 通過高角度均勻照射、 低角度特征提取進行的檢測等
LFR系列
從平坦的發(fā)光面照射擴散光。
用途: 基板上的封裝零件檢測、 金屬零件的表面檢測等
LKR系列
從形成角度的發(fā)光部照射擴散光。
用途: 通過焊錫檢測、顏色識別進行不同品種混入檢測、 光澤表面的污垢檢測等
FPR系列
從形成角度的發(fā)光面照射低角度擴散光。
用途: 金屬零件的邊緣檢測、電子零件的字符識別等
2、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)方形光源
FPQ3系列New
從4個方向以低角度照射擴散光。傳統(tǒng)產(chǎn)品2倍的高輸出。
用途:電子零件的字符識別、食品容器的外觀檢測、基板的外觀與圖案檢測等
FPQ2 系列
從4個方向以低角度照射擴散光。
用途:電子零件的外觀檢測、字符識別、針或引腳的彎曲、污垢檢測等
3、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)條形光源
LDL2 系列
從線性封裝LED的發(fā)光部照射直射光。
用途:帶發(fā)紋金屬的損傷檢測、 異物與有無檢測等
LDLB 系列 <新增防水型>
控制器內(nèi)置的條形光源,適用于大型被測物體。
用途: 機器人拾取用光源、不同品種混入檢測、 大型被測物體的外觀檢測等
HLDL2 系列
照射大型被測物體的*佳直射光。
用途: 機器人拾取用光源、大型被測物體的外觀檢測、 不同品種混入檢測等
4、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)平面光源
TH2 系列 (高亮度型) New
從平坦的發(fā)光面照射擴散光。
用途: 液面檢測、針孔檢測、外觀檢測、 金屬零件的毛刺檢測等
TH2 系列 (高指向性型) New
照射指向性較高的擴散光。
用途: 尺寸測量、外觀檢測、損傷與污垢檢測、 缺陷檢測等
TH2 系列 (大型) New
*適用于大型被測物體的平面光源。
用途: 大型被測物體的液面檢測、 外觀檢測、異物檢測等
TH2 系列 (寬型) New
適用于長方形被測物體及線陣相機的平面光源。
用途: 長方形被測物體的外觀檢測、片狀被測物體的缺陷檢測等
TH2 系列 (開孔型) New
從與相機同軸的方向進行照射的平面光源。
用途: 外觀檢測、異物、污垢檢測、 刻印字符讀取、金屬零件的密封材料 (FIPG)涂抹狀態(tài)檢測等
TH 系列
從平坦的發(fā)光面照射擴散光。
用途: 液面檢測、針孔檢測、外觀檢測、 金屬零件的毛刺檢測等
LFL 系列
從平坦的發(fā)光面照射擴散光。
用途: 液面檢測、外觀檢測、 包裝品的破裂、污垢檢測等
5、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)圓頂光源
HPD2 系列
利用圓頂形狀的反射板均勻地照射擴散光。
用途: 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識別檢測、刻印、損傷與污垢檢測等
LDM2 系列
從圓錐形發(fā)光面照射擴散光。
用途: 光澤表面、曲面、凹凸面的外觀、印字、顏色識別檢測、焊錫檢測等
LAV 系列
利用擴散光光源與同軸光源的復(fù)合結(jié)構(gòu)均勻地照射擴散光。
用途:鍍金**檢測、密封內(nèi)的對象物檢測、 光澤面的異物附著檢測等
PDM 系列
利用擴散光光源、同軸光源與低角度光源的復(fù)合結(jié)構(gòu)。
用途:鍍金**檢測、密封內(nèi)的對象物檢測、 光澤面的異物附著檢測等
6、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)平面無影光源LFX3 系列
以平面外殼實現(xiàn)了圓頂光源的效果。
7、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)同軸光源
LFV3 系列
從與相機同軸的方向均勻地照射擴散光。
用途: 光澤表面、鏡面的缺陷、損傷、 刻印、凹陷檢測等
MSU 系列
采用**的光源技術(shù)照射平行度高的擴散光。
用途: 光澤表面的細微損傷檢測等
MFU 系列
采用**的光源技術(shù)照射平行度高的擴散光。
用途: 精密的外觀檢測、尺寸測量等
8、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)紫外光源?紅外光源
UV2 系列
使用高輸出UV-LED的UV光源。
用途: 通過激發(fā)熒光進行密封材料的有無檢測等
UV系列
備有使用**UV-LED的各種光源產(chǎn)品陣容。
用途:隱形代碼的讀取等
LNSP-UV-FN 系列
使用高輸出UV-LED的UV線光源。
用途: 通過激發(fā)熒光進行密封材料的有無檢測等
IR2 系列
備有使用IR-LED的各種光源產(chǎn)品陣容。
用途: 透過液體檢測內(nèi)部異物等
9、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)點光源
HLV3 系列 New!
-兼具高輸出、高均勻性
-降低亮度個體差異
-與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比 實現(xiàn)*大2倍的高輸出化
HLV2 系列
采用**的光學(xué)設(shè)計照射高輸出的點光。
用途: 尺寸測量用光源、點照射用光源等
LV 系列
采用**的集光技術(shù)照射點光。
用途: 尺寸測量用光源、點照射用光源等
10、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)LED光源機
PFB3 系列 New!
-可替代100W鹵素光源的亮度
-確保調(diào)光的可控性
HFS 系列
采用**集光技術(shù)的LED光纖光源系統(tǒng)(直線形)。
用途:對準標記成像等
HFR 系列
采用**集光技術(shù)的LED光纖光源系統(tǒng)(環(huán)形)。
用途:對準標記成像等
HLV2-22-NR-3W 系列
采用**的光學(xué)設(shè)計照射高輸出的點光。
用途: 微型光纖照射頭專用光源
HLV2-3M-RGB-3W
采用**的光學(xué)設(shè)計及集光技術(shù)照射高輸出的點光。
用途: 微型光纖照射頭專用光源
PFBR 系列
實現(xiàn)了超過250W金鹵光源的光輸出。
用途:連接各種光纖導(dǎo)管使用
PFB2 系列
實現(xiàn)了超過100W鹵素光源的光輸出。
用途: 連接各種光纖導(dǎo)管使用
11、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)線光源
CU-LNSP2/LNSP 系列
作為安裝至LNSP系列的同軸光源使用。
LNSP-FN 系列
通過**的集光技術(shù)實現(xiàn)抑制了光擴散的照射。強制冷卻(風扇冷卻)型的高輸出線光源。
LN 系列
照射集光后的線光。
適用于外觀檢測、缺陷檢測。
LN-HK 系列
照射集光后的線光(高輸出型)。
適用于外觀檢測、缺陷檢測
LNSD 系列
用途廣泛的高通用性線光源。
適用于魚眼、損傷、凹痕、異物與污垢檢測。
LND2 系列
實現(xiàn)與熒光燈同等亮度且降低了成本的線陣光源??捎糜谒芯€陣傳感器檢測。
適用于損傷與凹痕檢測、異物檢測、尺寸測量。
HLND 系列
從線性封裝LED的發(fā)光面照射擴散光。
適用于異物檢測、污垢檢測。
LT 系列
運用本公司**的光學(xué)系統(tǒng),同時實現(xiàn)高均勻性與高亮度。 可通過掃描速率進行高精度檢測,
適用于廣泛的用途。 適用于白點檢測、劃痕檢測。
LNV 系列
從與相機同軸的方向照射擴散光。
適用于缺陷檢測、污垢檢測。
LNDG 系列
采用**的光學(xué)設(shè)計實現(xiàn)斜光照射。
適用于縱向褶皺、縱向條痕、折痕、凹凸、生產(chǎn)線傳送方向的損傷檢測。
LNIS 系列
采用**的光學(xué)設(shè)計實現(xiàn)兩側(cè)斜光照射。
適用于條痕、劃痕檢測、生產(chǎn)線傳送方向的損傷檢測。
LNIS-FN 系列
采用**的光學(xué)設(shè)計實現(xiàn)兩側(cè)斜光照射。采用強制冷卻(風扇冷卻)的高輸出型。
12、日本CCS晰寫速光學(xué)(希希愛視)超亮頻閃光源
PF 系列(LDR-PF-LA、LFV-PF) New
環(huán)形低角度型 LDR-PF-LA、同軸型 LFV-PF。實現(xiàn)檢測的“高速化”、“提高精度”!
PF 系列(HPD-PF、HPR-PF)
產(chǎn)品種類得到擴充,用途擴大!
PF 系列
利用頻閃發(fā)光,進一步加快高速生產(chǎn)線。為提高生產(chǎn)力做出了貢獻。
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