一、研究背景

在當今全球能源轉(zhuǎn)型的大背景下，可再生能源的戰(zhàn)略意義日益凸顯。其中，風力發(fā)電以其資源豐富、環(huán)境友好、技術(shù)成熟度高等優(yōu)勢，在全球范圍內(nèi)得到了廣泛應用和快速發(fā)展。

風力發(fā)電作為可再生能源的重要組成部分，其基本原理是利用風力驅(qū)動風力發(fā)電機組的葉片旋轉(zhuǎn)，進而通過機械能轉(zhuǎn)換為電能的過程。

在這過程中，電機驅(qū)動模塊扮演著將風能高效轉(zhuǎn)換為電能的橋梁角色。在風力發(fā)電系統(tǒng)中，IGBT組件作為電機驅(qū)動模塊中的核心部件，其性能直接關(guān)系到風力發(fā)電系統(tǒng)的整體效率和穩(wěn)定性。

多重角色

? 新能源汽車：IGBT用于電機驅(qū)動系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)高效的能量轉(zhuǎn)換和精確的電機控制，從而提高車輛的加速性能和能效。

? 軌道交通：IGBT用于牽引傳動系統(tǒng)和供電系統(tǒng)，確保列車的安全、穩(wěn)定運行。

? 風力發(fā)電和太陽能：IGBT用于風力發(fā)電和太陽能發(fā)電設(shè)備的功率轉(zhuǎn)換系統(tǒng)，能夠?qū)L能或太陽能轉(zhuǎn)換為電能，并輸送到電網(wǎng)中。

二、客戶情況

在涉及某一可再生能源項目，具體為風力發(fā)電領(lǐng)域，當前階段的核心任務需對電機驅(qū)動模塊中內(nèi)置的IGBT組件進行C-V特性分析。

三、測試要求

1、測試電壓：1300V

2、要求測試電機驅(qū)動模塊內(nèi)部IGBT MOS管CV特性，確保其能滿足風力發(fā)電系統(tǒng)對于高效能量轉(zhuǎn)換與精確控制的需求。

四、解決方案

根據(jù)上述測試要求，推薦TH513 半導體C-V特性分析儀。

在風力發(fā)電系統(tǒng)中，IGBT組件作為電機驅(qū)動模塊中的核心部件，其性能直接關(guān)系到風力發(fā)電系統(tǒng)的整體效率和穩(wěn)定性。

C-V特性曲線是評估半導體材料和器件性能的重要方式。通過對IGBT組件進行C-V特性分析，可以深入了解其寄生電容、損耗等關(guān)鍵參數(shù)，進而優(yōu)化電機驅(qū)動模塊的設(shè)計，提高風力發(fā)電系統(tǒng)的整體性能。

TH510系列是同惠根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設(shè)計的分析儀器。測試頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。具體型號如下：

1、高壓適應性

在風力發(fā)電的初期階段，尤其是在海上風電領(lǐng)域，由于環(huán)境的特殊性，往往伴隨著電壓挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)設(shè)備受限于1200V的電壓輸出能力，難以滿足這些條件下的測試需求。然而，隨著技術(shù)的不斷進步，TH513應運而生，它成功突破了這一傳統(tǒng)限制，可覆蓋至3000V的高壓器件范圍，從而適配海上風電等嚴苛且多變的場景，為可再生能源的可靠利用開辟了全新的道路。

2、漏源高壓擊穿保護技術(shù)

在測試功率器件電容時，漏極D通常會加上高壓，特別是第三代功率半導體器件，電壓甚至可高達1000V-3000V，當漏源瞬間擊穿時，常會導致電容器瞬間短路放電，在漏源電壓1500V時，放電電流可高達780A，如此大的瞬間電流，會反沖至儀器內(nèi)部電路，并導致?lián)p壞。

同惠高壓擊穿保護技術(shù)，解決了此隱患，避免經(jīng)常由于高壓沖擊損壞儀器，降低了維修成本的同時提高了自動化測試的效率。

3、自動化集成

TH513兼容 HANDLER 接口與 SCPI 等協(xié)議，該設(shè)備能夠無縫對接各類產(chǎn)線與先進的智能測試系統(tǒng)，實現(xiàn)了測試流程的高度自動化與集成化，從而顯著提升生產(chǎn)效率，確保產(chǎn)品質(zhì)量的同時，縮短了測試周期，為制造流程帶來了更高效、更靈活的解決方案。

4、曲線掃描功能（選件）

在MOSFET的參數(shù)中，CV特性曲線也是一個非常重要的指標，如下圖：

TH510系列支持C-V特性曲線分析，可以以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線。

TH510系列同時支持多種曲線掃描模型

曲線支持散點標記及粗細調(diào)節(jié)

Ciss-Rg曲線掃描

5、TH513-1測試夾具

TH513-1 是專用于TH513 半導體C-V特性分析儀的測試夾具之一，專為實驗室高精度測試設(shè)計。內(nèi)置Interlock安全聯(lián)鎖模塊，符合安全標準。配合TH513-1A、TH513-247-4L（選配）治具工裝可以測試TO-220、TO-247、RO-247-4L等封裝類型的直插功率器件。另外TH513-1還配備3根測試夾，可以測試模組、非標準封裝的器件。

艾克賽普公司是同惠湖南授權(quán)代理商，如果您有TH510系列半導體C-V特性分析儀需求或任何疑問，歡迎聯(lián)系我們，將提供免費樣機上門試用和更合適的測試解決方案。