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晶體結(jié)構(gòu)對(duì)鐵電測(cè)試儀測(cè)試結(jié)果的影響
鐵電薄膜具有鐵電性且厚度在數(shù)十納米至數(shù)微米的薄膜材料，是一類重要的功能薄膜材料。與體材料一樣具有介電性、鐵電開(kāi)關(guān)效應(yīng)、壓電效應(yīng)、熱釋電效應(yīng)、電光效應(yīng)、聲光效應(yīng)、光折射效應(yīng)和非線性光學(xué)效應(yīng)等一系列特性。既可單獨(dú)利用上述諸效應(yīng)制作出不同的功能器件，也可綜合利用兩個(gè)或兩個(gè)以上的效應(yīng)制作多功能器件、集成器件或機(jī)敏器件。
鐵電測(cè)試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測(cè)試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、可測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進(jìn)行電致應(yīng)變測(cè)試，可以蝴蝶曲線功能，設(shè)備還可以擴(kuò)展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)量-DHM、泄漏電流測(cè)量-LM、CV測(cè)量-CVM、疲勞測(cè)量-FM、保持力測(cè)量-RM、印記測(cè)量-IM、脈沖測(cè)量-PM、靜態(tài)電滯回線測(cè)量-SHM、擊穿電壓測(cè)量-BDM等，對(duì)于評(píng)估鐵電材料的性能以及優(yōu)化器件設(shè)計(jì)具有重要意義。
同一種材料，單晶體和多晶體的電滯回線是不同的。如單晶體的電滯回線很接近于矩形，P和P很接近，而且P較高；陶瓷的電滯回線中P與P相差較多，表明陶瓷多晶體不易成為單疇，即不易定向排列。
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