COB BI測試老化試驗箱的應用

來源：安徽奧科試驗設備有限公司 2025年02月28日 14:46

COB BI測試老化試驗箱，專為COB（Chip on Board，板上芯片）封裝及BI（Backlight Inverter，背光逆變器）等電子元件的高溫老化測試設計，遵循ISO 9001質(zhì)量管理體系及GB/T 2423、IEC 60068等環(huán)境試驗標準。

設備特點：

設備通過模擬長期高溫工況，驗證元件熱穩(wěn)定性、材料耐受性及電氣性能可靠性，適用于研發(fā)驗證、量產(chǎn)篩選及質(zhì)量抽檢全流程。

精準調(diào)控：溫度波動度≤±0.5℃，偏差≤±2.0℃，均勻度≤3℃（滿足GB/T 10592-2008等標準）；

快速響應：支持≥10℃/min平均升溫速率（100kg負載），溫度過沖<2.0℃；

智能算法：PID自適應調(diào)節(jié)，確保長期穩(wěn)定性。

人機交互：顯示屏+PLC控制，支持 RS-485 通訊，可與上位機連接；

數(shù)據(jù)追溯：內(nèi)置存儲芯片記錄數(shù)據(jù)，支持U盤導出及Modbus RTU協(xié)議遠程監(jiān)控；

故障自檢：10+項安全報警（含加熱器斷路、風機過載、傳感器異常等）。

相關產(chǎn)品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的，應在授權范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。

欧美……一区二区三区,欧美日韩亚洲另类视频,亚洲国产欧美日韩中字,日本一区二区三区dvd视频在线