金屬首飾生產(chǎn)公司質(zhì)檢部門的內(nèi)部會(huì)議中，針對(duì)近期的貴金屬首飾分析問(wèn)題正在進(jìn)行熱烈的討論，似乎他們遇到了難題，到底是什么呢？一起來(lái)看看！

EDX專利技術(shù)解決難題

島津分析中心申請(qǐng)的中國(guó)發(fā)明專利《一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法》（ZL 2019 1 0867000.4已獲得國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授權(quán)），專利技術(shù)為含鍍層貴金屬樣品成分的無(wú)損檢測(cè)提供了解決方案。

樣品中的構(gòu)成元素經(jīng)過(guò)光源X射線激發(fā)后，發(fā)出特征熒光X射線，元素含量與熒光X射線強(qiáng)度之間存在著函數(shù)關(guān)系。基本參數(shù)法使用靈敏度系數(shù)f為校正因子，靈敏度系數(shù)為測(cè)試強(qiáng)度和理論強(qiáng)度的比值（f=I測(cè)/I理），使用貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。金屬鍍層對(duì)貴金屬基體元素的熒光強(qiáng)度存在不同程度的影響，常規(guī)貴金屬分析方法中理論強(qiáng)度的計(jì)算沒有考慮鍍層的影響，按照常規(guī)貴金屬分析方法計(jì)算的分析結(jié)果會(huì)產(chǎn)生偏差。專利技術(shù)引入了含鍍層貴金屬元素的理論強(qiáng)度算法，修正了鍍層元素對(duì)貴金屬基體組成元素理論強(qiáng)度的影響，使得原有的函數(shù)關(guān)系仍然成立，校正了含鍍層貴金屬基體成分的分析結(jié)果。一次分析，就可以得到鍍層厚度、基材貴金屬成分的結(jié)果。

應(yīng)用案例分享

取含銠鍍層貴金屬樣品（以黃金鍍銠樣品為例），分別使用常規(guī)分析條件（常規(guī)）、專利分析條件（專利）分析含銠鍍層黃金樣品，統(tǒng)計(jì)比較測(cè)試結(jié)果，評(píng)估鍍層對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響及專利分析條件的修正效果。

表1 對(duì)比測(cè)試結(jié)果

常規(guī)&專利測(cè)試方法的分析誤差比較見圖2 。

圖2 不同方法分析誤差比較

由上可以看出，（常規(guī)）分析含銠鍍層黃金樣品，黃金中貴重金屬元素Au的結(jié)果偏差較大，并隨著鍍層厚度的增加，分析偏差值呈現(xiàn)加大的趨勢(shì)。采用（專利）分析含銠鍍層黃金樣品，分析結(jié)果與參考值結(jié)果一致，表明專用分析條件（專利）對(duì)含銠鍍層黃金樣品分析結(jié)果有很好的修正效果，可以實(shí)現(xiàn)無(wú)損的快速分析。

另外，常規(guī)方法只能分析成分，專利分析方法可以同時(shí)測(cè)試出鍍層厚度和基材成分。

常規(guī)方法分析結(jié)果

專利方法分析結(jié)果

分析利器

島津EDX系列儀器有EDX-7000、EDX-7200、EDX-8000、EDX-8100、EDX-LE Plus，島津EDX系列儀器都可以應(yīng)對(duì)包含鍍層的基體貴金屬成分分析，以常見型號(hào)EDX-7000為例。

EDX-7000能量色散型X射線熒光光譜儀特點(diǎn)

EDX-7000能量色散型X射線熒光分析儀

結(jié)語(yǔ)

利用島津EDX系列儀器，可以對(duì)含鍍層的貴金屬基體成分進(jìn)行定量分析，利用軟件算法修正鍍層對(duì)基體組成元素分析結(jié)果的影響，利用標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)系數(shù)，提高了分析結(jié)果的準(zhǔn)確度。專用分析條件（專利）分析結(jié)果表明，該方法具有快速、無(wú)損、經(jīng)濟(jì)、準(zhǔn)確等諸多優(yōu)點(diǎn)。含鍍層貴金屬成分準(zhǔn)確分析，專利技術(shù)助力輕松搞定！

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