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合金分析儀是用來進行合金元素成分分析和合金材料鑒定的一種光譜儀，主要可以應用在合金管道、管材、焊接材料、廢舊金屬回收、*種合金分析，工廠材料入庫檢查，航空航天等領域，用的多的是在野外進行材料的鑒定，及材料的核查等工作。
合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨工業(yè)制造領域的快速成份鑒定工具。
合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。
每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了*里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道*為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。
在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。
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