聯(lián)系電話
參考價: | 面議 |
- TXRF 3760 產(chǎn)品型號
- 其他品牌 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 深圳市 所在地
訪問次數(shù):349更新時間:2024-09-29 09:08:16
- 聯(lián)系人:
- 吳小姐
- 電話:
- 192-7009-5986
- 手機:
- 19270095986
- 售后:
- 19270095986
- 傳真:
- 86-0755-26703456
- 地址:
- 龍華街道龍華大道906號電商集團(tuán)7層
- 個性化:
- www.tamasakisci.cn
- 網(wǎng)址:
- www.tamasakisci.cn
掃一掃訪問手機商鋪
價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,綜合 |
---|
半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku反射熒光X射線分析儀
采用轉(zhuǎn)子式高輸出X射線發(fā)生器和新設(shè)計的入射X射線單色儀。
使用直接TXRF測量方法實現(xiàn)了10 8 原子/cm 2的過渡金屬LLD水平。 它可實現(xiàn)相同的精度和高通量,測量時間僅為封閉式 X 射線管的 1/3。
半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku反射熒光X射線分析儀
半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku反射熒光X射線分析儀
TXRF 3760 概述
采用1靶3光束方式
方法使用三種類型的光譜晶體來提取適合待測量元素的單色 X 射線束,并用它來激發(fā)污染物元素。 用于測量輕元素的W-Mα射線不會激發(fā)Si,因此可以分析Na、Mg和Al。從Na到U連續(xù)進(jìn)行高精度自動分析。
通過消除衍射輻射,最大限度地減少散射輻射的影響
采用抑制高次反射的光學(xué)系統(tǒng)和 XY-θ 驅(qū)動臺,X 射線入射方向自動選擇功能消除了來自基板的衍射線,并可在散射線干擾最小的情況下實現(xiàn)高信噪比測量。 可以對整個晶圓表面進(jìn)行精確且高精度的微量分析。
可將坐標(biāo)與異物檢查坐標(biāo)數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)
通過將異物檢查裝置的坐標(biāo)數(shù)據(jù)導(dǎo)入TXRF裝置,可以分析存在顆粒的位置的污染元素。 滴水軌跡搜索功能采用的算法,需要快速、準(zhǔn)確的坐標(biāo)。
高速晶圓內(nèi)污染篩查“Sweeping-TXRF功能"
可以使用Sweeping-TXRF方法,該方法使用直接TXRF方法在晶圓表面上進(jìn)行高速測量,以揭示污染物元素的分布。 可以在短時間內(nèi)對整個晶圓表面進(jìn)行污染分析,而傳統(tǒng)的代表性坐標(biāo)測量(例如表面內(nèi)的 5 或 9 個點)無法檢測到這種情況。只需30分鐘即可完成200mm晶圓整個表面5×10 10 個原子/cm 2的污染檢測。除了污染元素的分布外,還可以通過對整個表面的測量值進(jìn)行積分來計算晶片表面內(nèi)的平均污染濃度。
邊緣排除 0mm 無損、非接觸式污染測量“ZEE-TXRF 功能"
我們實現(xiàn)了晶圓邊緣附近的高靈敏度測量,這是以前使用 TXRF 方法無法測量的。 現(xiàn)在可以使用 TXRF 對污染集中的邊緣區(qū)域進(jìn)行污染分析。
兼容各種CIM/FA
可與上位機進(jìn)行SECS通信,并兼容各種CIM/FA。 除了開放式盒式磁帶外,它還兼容 SMIF POD(可選)。
TXRF 3760 特點
TXRF 3760 規(guī)格
產(chǎn)品名稱 | TXRF 3760 | |
---|---|---|
方法 | 全內(nèi)反射 X 射線熒光 (TXRF) | |
目的 | 從 Na 到 U 的元素分析來測量晶圓污染 | |
技術(shù) | 帶無液氮檢測器的 3 束 TXRF 系統(tǒng) | |
主要部件 | 適用于最大 200 mm 晶圓的 XYθ 樣品臺系統(tǒng)、真空晶圓機器人傳輸系統(tǒng)、ECS/GEM 通信軟件 | |
選項 | Sweep TXRF 軟件(允許繪制晶圓表面污染物分布圖以識別“熱點";ZEE-TXRF 功能允許進(jìn)行零邊緣排除的測量) | |
控制(電腦) | 內(nèi)部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng) | |
機身尺寸 | 1000(寬)×1760(高)×948(深)毫米 | |
大量的 | 100公斤(本體) | |
電源 | 三相 200 VAC 50/60 Hz,100 A |