BT-100松裝密度儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹：BT-100松裝密度儀是用于一般粉體的松裝密度測試儀
BT-1700濾紙清潔度分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹：BT-1700濾紙清潔度分析系統(tǒng)（以下簡稱BT-1700）是一款用于濾紙的殘留顆粒自動化圖像分析系統(tǒng)
BT-300系列振實(shí)密度儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹：振實(shí)密度是指一定量的粉體裝填在特定容器后，以一定的頻率和幅度進(jìn)行振動，當(dāng)粉末的體積不再減少時(shí)讀出粉體的體積，然后用粉末的重量除以該體積就得到振實(shí)密...
BT-200標(biāo)準(zhǔn)漏斗法金屬粉末流動性測定儀（霍爾流速計(jì)） 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹：BT-200標(biāo)準(zhǔn)漏斗法金屬粉末流動性測定儀（霍爾流速計(jì)）是用于測試金屬粉末流動性的儀器
PG150-PC激光平面干涉儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：PG150-PC激光平面干涉儀是一種使用方便的光學(xué)精密計(jì)量儀器，主要用于平面類光學(xué)元件檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系...
SE-VE光譜橢偏儀03090803 參考價(jià)：面議
SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：SE-VE是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息
SE-i 光譜橢偏儀03090808 參考價(jià)：面議
SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀，針對有機(jī)/無機(jī)鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化開發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄...
全自動橢偏檢測機(jī)臺03090806 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：全自動橢偏檢測機(jī)臺作為一種小型橢偏集成機(jī)臺，通過整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測量模塊在線/離線式整體橢偏測量解決方案
SE-VM光譜橢偏儀03090802 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀
SE-PV光伏橢偏儀03090809 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：SE-PV光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)Ｓ眯凸庾V橢偏儀，針對光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽能電池表面減反膜測量定制開發(fā)，快速實(shí)現(xiàn)薄膜物性表征分析
SE-Mapping光譜橢偏儀03090805 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動Mapping測量模塊，通過橢偏參數(shù)、...
SE-L光譜橢偏儀03090804 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：SE-L光譜橢偏儀是一款全自動高精度光譜橢偏儀，集眾多科技技術(shù)，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動測量模塊
SE-Glass 光譜橢偏儀03090807 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：光譜橢偏儀SE-Glass是一款針對玻璃蓋板行業(yè)定制的專用型光譜橢偏儀，針對玻璃蓋板光學(xué)鍍膜行業(yè)通過集成微光斑+可視化調(diào)平系統(tǒng)儀消除透明基底背反測量定...
PMS 橢偏在線監(jiān)測裝備03090810 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：橢偏在線監(jiān)測裝備針對LCD、OLED等新型平板顯示量光學(xué)薄膜質(zhì)量控制需要，專門設(shè)計(jì)的在線薄膜測量系統(tǒng)
ME-L 穆勒矩陣橢偏儀03090801 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制...
TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀，利用光學(xué)干涉原理，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，快速準(zhǔn)確測量薄膜厚度、光學(xué)...
SKCH-1（A）精密測厚儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：SKCH-1（A）精密測厚儀是一種結(jié)構(gòu)簡單、價(jià)格低廉、高精度的測量裝置，主要用于各類材料厚度的精密測量，也可用于其它物品的高度與厚度測量
EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合的頻率測量技術(shù)，進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測
ComBi-D3涂鍍層測厚儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：ComBi-D3涂鍍層測厚儀可以測試所有的非磁性涂層如人工合成（絕緣）材料，漆、瓷釉、銅、鉻、鋁等
薄膜厚度測量系統(tǒng)TF200 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析
TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：TFMS-LD是一款反射光譜薄膜測厚儀，可快速精確地測量透明或半透明薄膜的厚度，其測量膜厚范圍為15nm-50um，儀器所發(fā)出測試光的波長范圍為400...
SGC-10薄膜測厚儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：SGC-10薄膜測厚儀適用于介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量
DSA-X光學(xué)接觸角測量儀 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：DSA-X光學(xué)接觸角測量儀配置高分辨率的高速工業(yè)相機(jī)搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進(jìn)行計(jì)算擬合從而獲得準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)
TMVS-1、TMVS-1S數(shù)顯轉(zhuǎn)塔顯微維氏硬度計(jì) 參考價(jià)：面議
產(chǎn)品簡介：TMVS-1、TMVS-1S數(shù)顯轉(zhuǎn)塔顯微維氏硬度計(jì)采用精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、CPU控制試驗(yàn)過程、高清晰光學(xué)測量系統(tǒng)、光電傳感技術(shù)(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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