試驗箱廠家 三箱高低溫沖擊箱 現(xiàn)貨

產(chǎn)品用途：

 冷熱沖擊試驗箱可用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對象包括金屬、汽車電子、橡膠、電工電子、IC芯片、LED照明、軍工、航空航天等材料檢測分析的重要儀器設(shè)備，測試結(jié)果可作為其產(chǎn)品改進的重要依據(jù)或參考。

技術(shù)參數(shù)：

最高溫沖擊范圍:150C

低溫沖擊范圍:-65 ℃

高低溫沖擊范圍有:-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃;

高溫室儲存最高溫度范圍:60℃~+200℃;

低溫室儲存低溫度范圍:60℃~-75℃;

高溫室升溫時間:+20℃~+200℃約60分鐘

低溫室降溫時間:+20℃~-75℃約100分鐘

溫度恢復(fù)時間:3~5min(最快轉(zhuǎn)換時間在10秒鐘內(nèi)可完成)

溫度波動度:士0.5℃

溫度偏差:<士2℃

測試室溫度范圍:-40℃~+150℃(風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍:-10℃~-40℃(任意可調(diào))

高溫沖擊范圍:60℃~150℃(任意可調(diào))

試驗箱廠家 三箱高低溫沖擊箱 現(xiàn)貨

滿足標(biāo)準(zhǔn)

?GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件

?GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

?GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

?GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

?GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化

?GJB150.3-86 J用設(shè)備環(huán)境實驗方法 高溫沖擊試驗

?GJB150.4-86 J用設(shè)備環(huán)境實驗方法 低溫沖擊試驗

?GJB150.5-86 J用設(shè)備環(huán)境實驗方法 溫度沖擊試驗

?GJB360.7-87 電子機電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗

選購注意事項

溫度范圍:根據(jù)測試需求選擇合適的溫度范圍，

溫度變化速率:考慮測試標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品要求，選擇合適的溫度變化速率。

樣品容量與尺寸:確保試驗箱能夠容納并適應(yīng)待測試樣品的尺寸和數(shù)量

自動化程度:根據(jù)實驗室的自動化水平和操作需求，選擇適合的自動化程度。

售后服務(wù):選擇有良好售后服務(wù)和技術(shù)支持的供應(yīng)商，以確保設(shè)備的長期穩(wěn)定運行。